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一种Ge掺杂的FeCo基双相软磁合金专利

发布时间:2026-06-12

【摘要】 本发明公开了一种Ge掺杂的FeCo基双相软磁合金,该Fe44Co43-XZr7B5Ge1+X软磁合金中X的原子百分比为0~6。所述Fe44Co43-XZr7B5Ge1+X合金的饱和磁化强度为143~155emu/g,500~650℃晶化后由于磁性相FeCo晶粒的析出,饱和磁化强度达到166~178emu/g;纳米晶粒尺寸为10nm左右,晶化后的矫顽力为0.1~0.6Oe;非晶基底居里温度为940~950℃;本发明合金通过用Ge元素取代部分Co元素提高了合金的非晶基底居里温度,同时提高了第二晶体相即有害相析出温度,使Fe44Co43-XZr7B5Ge1+X合金在高温下具备优异的软磁性能,即提高了纳米晶软磁合金的使用温度。 微信 【专利类型】发明授权 【申请人】北京航空航天大学 【申请人类型】学校 【申请人地址】100083 北京市海淀区学院路37号 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】海淀区 【申请号】CN200810104169.6 【申请日】2008-04-16 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101260494B 【公开公告日】2010-09-08 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101260494B 【授权公告日】2010-09-08 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】C22C30/00; H01F1/153; H01F1/147; C22C1/02; B08B3/12; C22F1/00 【发明人】毕晓昉; 孙瑶; 赵阳 【主权项内容】一种Ge掺杂的FeCo基双相软磁合金,其特征在于:所述Ge掺杂的FeCo基双相软磁合金是Fe44Co43-XZr7B5Ge1+X,0<X≤6;该Fe44Co43-XZr7B5Ge1+X合金为非晶、纳米晶双相软磁合金。 【当前权利人】北京航空航天大学 【当前专利权人地址】北京市海淀区学院路37号 【统一社会信用代码】12100000400011227Y 【引证次数】2.0 【自引次数】2.0 【家族引证次数】2.0 【家族被引证次数】18

  • 【摘要】本发明公开了一种基于资产弱点分析的安全风险评估系统及方法。包括弱 点风险计算器和系统风险计算器两个子系统。其方法是:对计算机安全系统资 产按功能组成进行层次分割;并依据所分割的层次模型,计算各组件的弱点风 险因子;根据各组件的弱点风
  • 【摘要】请求保护的外观设计包含色彩。【专利类型】外观设计【申请人】李靖【申请人类型】个人【申请人地址】100096 北京市海淀区西三旗建材城中里17号楼【申请人地区】中国【申请人城市】北京市【申请人区县】海淀区【申请号】CN20083024
  • 【摘要】本实用新型公开了一种扩大超声信号和红外信号接收角度和距离的系统,其特征在于在 超声和红外测距或定位系统中,设计了新型的全向的超声接收器、干扰超声吸收装置结构 以及通过红外透镜扩大红外信号的接收范围的装置,并可以将这几种设备进行结构复
  • 【摘要】本发明公开了一种带电源单元的PCB板,其特征在于,所述PCB板包 括绝缘基板和印刷在绝缘基板上的导电图形层;所述电源单元固定安装在 所述绝缘基板上,并且,与所述导电图形层电连接。本发明PCB板主要应 用在LED行业,用于安装LED发
  • 【摘要】毛细管X光透镜共聚焦微区X射线荧光谱仪是由X光源、样品台、显微镜、探测器、 X射线光源和样品台之间的整体毛细管X光会聚透镜以及样品台和探测器之间的整体毛细 管X光平行束透镜组成,它可用来对样品进行三维无损微区X射线荧光分析。本实用新
  • 【摘要】提供一种带检测及控制信号线的电源插头,该电源插头由接地线插片(1)、至少一个固定针套(2)、火线插片(4)、零线插片(5)、绝缘塑料制插头主体(6)、信号控制线(7)、与这些插片相连的电线(8)和至少一个信号线探针组件构成;信号线探