【摘要】 接触式智能卡与外界通信时，数据传输的管脚通常使用开漏PAD。开漏PAD的输出从低电平到高电平的转换由上拉电阻完成，导致电平上升时间较长，输出传输速率不高。接触式智能卡芯片的测试电路设计中，为了减少管脚，测试结果输出通常复用通信用的数据传输管脚。但开漏输出对传输速率的影响，使测试的时间加长，增加成本。本发明提出一种提高接触式智能卡芯片测试速度的电路，可以使数据输出管脚在测试模式下工作于强驱动状态，有效提升测试速度。 【专利类型】发明申请 【申请人】北京中电华大电子设计有限责任公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】100102 北京市朝阳区利泽中二路2号望京科技创业园A座五层 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】朝阳区 【申请号】CN200810227990.7 【申请日】2008-12-04 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101751599A 【公开公告日】2010-06-23 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101751599B 【授权公告日】2012-11-14 【授权公告年份】2012.0 【IPC分类号】G06K19/073; G01R31/28 【发明人】郑晓光 【主权项内容】1.一种提高接触式智能卡芯片测试速度的电路，其特征在于智能卡芯片的数据管脚使用三态双向PAD，通过控制PAD的输入端与输出控制端，达到提高测试数据输出速度的目的，选用带上拉电阻的三态双向PAD(1)作为数据传输管脚，三态双向PAD由三态门(6)和上拉电阻(7)两部分构成，选择器(2)和选择器(3)有两路输入，分别测试电路模块(4)和ISO/IEC 7816模块(5)，芯片内部的测试电路模块(4)输出的test_mode信号，作为两个选择器的控制端，控制选择两路输入中的一路作为输出。。 【当前权利人】北京中电华大电子设计有限责任公司 【当前专利权人地址】北京市朝阳区利泽中二路2号望京科技创业园A座五层 【专利权人类型】有限责任公司(外国法人独资) 【统一社会信用代码】911101057393507466 【被引证次数】3 【被他引次数】3.0 【家族引证次数】3.0 【家族被引证次数】3
