【摘要】 一种双曲晶体X荧光光谱分析仪，其特征在于包括分光测量室、抽真空部件、样品室、送样器、X射线激发源、供电电源、信息采集与处理器、仪器系统控制器及上位分析计算机；优越性在于采用四自由度联动机构，并以该机构为技术核心，把有限、分立波长的弯曲晶体X荧光光谱分析仪提升为连续衍射分光与探测的X荧光光谱分析仪，从而扩大弯曲晶体X荧光光谱分析仪的分析范围。 【专利类型】实用新型 【申请人】中国建筑材料检验认证中心; 北京逸东机电技术开发有限公司 【申请人类型】企业,其他 【申请人地址】100024 北京市朝阳区管庄东里1号 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】朝阳区 【申请号】CN200820144935.7 【申请日】2008-12-25 【申请年份】2008 【公开公告号】CN201436585U 【公开公告日】2010-04-07 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN201436585U 【授权公告日】2010-04-07 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】G01N23/223 【发明人】宋欣; 姜文贵; 宋晓琨; 张晓颖; 李海建; 杨伟清; 张磊; 张朝捷 【主权项内容】一种双曲晶体X荧光光谱分析仪，其特征在于它包括分光测量室、抽真空部件、样品室、送样器、X射线激发源、供电电源、信息采集与处理器、仪器系统控制器及上位分析计算机；所说的分光测量室依真空管路接口与抽真空部件对接，依X射线入射法兰接口与样品室对接，依电源与信息交换接口连通供电电源，依电缆通讯线分别连通信息采集与处理器和仪器系统控制器；所说的样品室分别连接送样器和X射线激发源；所说的信息采集与处理器依信息与控制线连通仪器系统控制器；所说的仪器系统控制器依标准接口连通上位分析计算机。 【当前权利人】中国建材检验认证集团股份有限公司; 北京逸东机电技术开发有限公司 【当前专利权人地址】北京市朝阳区管庄东里1号科研生产区南楼; 北京市石景山区梁公庵西侧58号 【专利权人类型】有限责任公司 【统一社会信用代码】91110107102282643H 【被引证次数】6 【被自引次数】1.0 【被他引次数】5.0 【家族被引证次数】6
