【摘要】 本发明针对智能卡在生产、制造和应用过程中，因应用环境不稳定导致产品性能劣化或 功能失效的现象提出了一种测试智能卡可靠性的方法。本方法的测试流程包括：(1)生成测 试卡；(2)通过读卡设备，在测试卡电源管脚施加稳定直流电压偏置测量电流ICC1；然后由 干扰电路对测试卡电源管脚输入干扰信号，测量电流ICC2，如果ICC2超过正常电流值ICC1 的5倍，则中止测试，判断测试失败；如果ICC2在正常电流值ICC1的5倍以内，则继续后 面的检验步骤；(3)干扰测试完成后，检验测试卡的性能和功能，如果测试卡的性能劣化或 功能失效，则测试结果判定为样品未通过测试；如果测试卡性能和功能正常，则测试结果判 定为样品通过测试。 【专利类型】发明申请 【申请人】北京中电华大电子设计有限责任公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】100015北京市朝阳区高家园1号 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】朝阳区 【申请号】CN200810116656.4 【申请日】2008-07-15 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101629989A 【公开公告日】2010-01-20 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101629989B 【授权公告日】2011-11-02 【授权公告年份】2011.0 【发明人】艾伟伟; 欧阳秋笙; 吴彩峰 【主权项内容】1、一种测试智能卡可靠性的方法，其特征在于所述方法，包括以下步骤： (1)生成测试卡； (2)通过读卡设备，在测试卡电源管脚施加稳定直流电压偏置，测量正常电流ICC1； 然后由电源干扰电路对测试卡电源管脚输入干扰信号，测量电流ICC2，如果ICC2超过正常 电流ICC1的5倍，则中止测试，判断测试失败；如果ICC2在正常电流ICC1的5倍以内，则 继续后面的检验步骤； (3)干扰测试完成后，检验测试卡的静态电学特性，并验证其功能，如果测试卡的性能 劣化或功能失效，则测试结果判定为样品未通过测试；如果测试卡性能和功能正常，则测试 结果判定为样品通过测试。 【当前权利人】北京中电华大电子设计有限责任公司 【当前专利权人地址】北京市朝阳区高家园1号 【专利权人类型】有限责任公司(外国法人独资) 【统一社会信用代码】911101057393507466 【被引证次数】13 【被自引次数】3.0 【家族被引证次数】15
