【摘要】 本发明提供了一种液晶显示面板云纹缺陷的检测方法和检测装置，其中 检测方法包括：步骤1.采集所要检测的液晶显示面板的样本图像；步骤2. 根据所述样本图像，利用B样条最小二乘法拟合出所述样本图像所对应的背 景图像；步骤3.将所述样本图像和背景图像进行比较，获取云纹缺陷图像。 液晶显示面板云纹缺陷的检测装置包括样本图像采集模块、背景图像拟合模 块、缺陷图像获取模块。本发明提供的液晶显示面板云纹缺陷的检测方法和 检测装置能够提高液晶显示面板云纹缺陷检测的效率和准确率，能够获得理 想的云纹缺陷图像。 【专利类型】发明申请 【申请人】京东方科技集团股份有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】100016北京市朝阳区酒仙桥路10号 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】朝阳区 【申请号】CN200810117992.0 【申请日】2008-08-19 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101655614A 【公开公告日】2010-02-24 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101655614B 【授权公告日】2011-04-13 【授权公告年份】2011.0 【发明人】唐剑; 王大巍; 李新国; 梁珂; 董友梅 【主权项内容】1、一种液晶显示面板云纹缺陷的检测方法，其特征在于，包括： 步骤1、采集所要检测的液晶显示面板的样本图像； 步骤2、根据所述样本图像，利用B样条最小二乘法拟合出所述样本图 像所对应的背景图像； 步骤3、将所述样本图像和背景图像进行比较，获取云纹缺陷图像。 【当前权利人】京东方科技集团股份有限公司 【当前专利权人地址】北京市朝阳区酒仙桥路10号 【专利权人类型】其他股份有限公司(上市) 【统一社会信用代码】911100001011016602 【被引证次数】TRUE 【家族被引证次数】TRUE
