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电子设备及测量物体尺寸的方法专利

发布时间:2026-07-05

【摘要】 本发明提供一种电子设备,其包括镜头模组、第一测距装置、第二测距装置、影像感测 器、处理器及存储器,第一测距装置测量物距,第二测距装置测量像距,影像感测器有成像 区,存储器存储成像区多个方向上的边界间距。处理器包括:方向选取模块,用于选取过成 像区几何中心的特定方向;距离获取模块,用于获取所述物距及像距;像尺寸获取模块,当 像沿特定方向填满成像区时,其根据边界间距得出像沿特定方向的像尺寸;视角计算模块, 根据像距及像尺寸计算被测物体沿特定方向的视角;物体尺寸计算模块,根据视角及物距计 算被测物体沿特定方向的物尺寸。本发明电子设备可直接测量物体尺寸,提高使用的便利性 。另,本发明还提供一种测量物体尺寸的方法。 【专利类型】发明申请 【申请人】鸿富锦精密工业(深圳)有限公司; 鸿海精密工业股份有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】518109广东省深圳市宝安区龙华镇油松第十工业区东环二路2号 【申请人地区】中国 【申请人城市】深圳市 【申请人区县】宝安区 【申请号】CN200810304417.1 【申请日】2008-09-08 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101672620A 【公开公告日】2010-03-17 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101672620B 【授权公告日】2011-01-05 【授权公告年份】2011.0 【IPC分类号】G01B11/00 【发明人】张振兴 【主权项内容】1.一种电子设备,其包括镜头模组、第一测距装置、第二测距装置 、影像感测器、处理器及存储器,所述第一测距装置用于测量被测物体的物距,第二测距装 置用于测量所述被测物体的像距,所述影像感测器具有成像区,所述存储器用于存储所述成 像区多个方向上的边界间距,其特征在于,所述处理器包括: 方向选取模块,用于选取特定方向,该特定方向经过所述成像区的几何中心; 距离获取模块,用于获取所述物距及所述像距; 像尺寸获取模块,用于当所述像沿所述特定方向填满所述影像感测器的成像区时,根 据所述边界间距得出所述像沿所述特定方向的像尺寸; 视角计算模块,用于根据所述像距及所述像沿所述特定方向的像尺寸计算出被测物体 沿所述特定方向的视角; 物体尺寸计算模块,用于根据所述特定方向的视角及物距计算出所述被测物体沿所述 特定方向的物尺寸。 【当前权利人】鸿富锦精密工业(深圳)有限公司; 鸿海精密工业股份有限公司 【当前专利权人地址】广东省深圳市宝安区龙华镇油松第十工业区东环二路2号; 中国台湾新北市土城区中山路66号 【专利权人类型】有限责任公司(外国法人独资) 【统一社会信用代码】914403007084307436 【被引证次数】13 【被自引次数】1.0 【被他引次数】12.0 【家族被引证次数】15

  • 【摘要】一种准确定位被测要素位置的方法,该方法包括如下步骤:设置数位摄像头在Z轴不同 位置上的定位参数;当测试开始时,获取数位摄像头摄取的待测工件的图片;根据数位摄像 头在Z轴的位置选取对应的定位参数;从待测工件的图片中选取被测要素的一点;
  • 【摘要】 一种用于减少投影机残影的遮光片,其包括一个透明基板及至少一个遮光膜,所述遮光膜设置有透光部,所述透光部是透明膜结构,所述遮光膜形成于所述透明基板的至少一表面上。由于该遮光片采用于透明基板上覆有遮光膜的方式,所以使得该遮光片的质量分
  • 【摘要】一种三极管制造方法,包括如下步骤:将芯片焊接在框架引脚厚度为0.36-0.44mm框架上;将键合丝键合连接所述芯片与框架的引脚;使用塑封料进行塑封成型保护。上述三极管制造方法通过减少框架厚度,实现节约材料以降低物料成本,同时降低了产
  • 【摘要】一种照明装置,其包括一个灯箱及多个发光二极管,该多个发光二极管设置在该灯箱的底板上。该照明装置还包括设置于该多个发光二极管上方的第一光学板。该第一光学板包括一个入光面、与该入光面相对的一个出光面及形成于出光面的多个相互平行的长条状柱
  • 【摘要】本发明涉及一种玻璃加工技术,尤其是一种曲面玻璃加工技术。它包括 步骤:1.在常温下对玻璃进行弯弧处理;2.对弯弧处理后的玻璃进行定型。 本发明的玻璃冷弯方法通过在常温下的对玻璃的加压弯弧后再进入高压釜定 型,使得在弯弧过程中不需要将
  • 【摘要】本发明公开一种滑盖机构及具有该滑盖机构的便携式电子装置,该便携式电子装置包括一主体单元、一滑动单元及一滑盖机构,该滑盖机构包括一主体板、一滑动板、二导引件及滑动件,该导引件固接于主体板上,该滑动件固接于滑动板上,该导引件包括一具有弹