【摘要】 一种防止手机测试中过电流破坏的方法，该方法包括如下步骤：提供一个测试治具和与 之相连的电源供应器；在所述测试治具的正极和电源供应器的正极之间串联一个过电流保护 元件；使所述测试治具与待测手机相连，以进行手机测试；当通过所述过电流保护元件的电 流急速升高而大于或等于设定的阀值时，所述过电流保护元件自动切断所述电源供应器至所 述测试治具的通路。本发明还提供一种防止手机测试中过电流破坏的系统。利用本发明可以 防止手机测试中产生的过电流对待测手机内部零件的破坏。 -官网 【专利类型】发明申请 【申请人】深圳富泰宏精密工业有限公司; 奇美通讯股份有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】518109广东省深圳市宝安区龙华镇富士康科技工业园F3区A栋 【申请人地区】中国 【申请人城市】深圳市 【申请人区县】宝安区 【申请号】CN200810302638.5 【申请日】2008-07-08 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101626586A 【公开公告日】2010-01-13 【公开公告年份】2010 【发明人】余国吉 【主权项内容】1.一种防止手机测试中过电流破坏的系统，该系统包括一个测试治 具和与之相连的电源供应器，所述测试治具连接待测手机，其特征在于，所述测试治具的正 极和电源供应器的正极之间串联有一个过电流保护元件。 【当前权利人】深圳富泰宏精密工业有限公司; 奇美通讯股份有限公司 【当前专利权人地址】广东省深圳市宝安区龙华镇富士康科技工业园F3区A栋; 中国台湾新北市土城区民生街4号 【专利权人类型】有限责任公司(外国法人独资) 【统一社会信用代码】91440300738817535K 【被引证次数】1 【家族被引证次数】1
