【摘要】 本发明提供一种评估射频识别电子标签的方法和系统，其中，方法包括： 步骤A1，阅读器产生包括读操作指令的信号，所述读操作指令中包括存储区 的大小和起始地址；步骤A2，将所述阅读器当前产生的包括读操作指令的信 号发送到天线；步骤A3，所述天线向射频识别电子标签发送接收到的信号； 步骤A4，判断读取数据是否成功，在判断出读取数据成功时，记录所述读操 作指令中包括的存储区的大小和起始地址。本发明简单的实现了射频识别电子 标签的存储性能的评估。。该数据由<>整理 【专利类型】发明申请 【申请人】中兴通讯股份有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】518057广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦法务部 【申请人地区】中国 【申请人城市】深圳市 【申请人区县】南山区 【申请号】CN200810118622.9 【申请日】2008-08-20 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101655898A 【公开公告日】2010-02-24 【公开公告年份】2010 【发明人】马振华; 张祖锋; 王金龙 【主权项内容】1.一种评估射频识别电子标签的方法，其特征在于，包括： 步骤A1，阅读器产生包括读操作指令的信号，所述读操作指令中包括存 储区的大小和起始地址； 步骤A2，将所述阅读器当前产生的包括读操作指令的信号发送到天线； 步骤A3，所述天线向射频识别电子标签发送接收到的信号； 步骤A4，判断读取数据是否成功，在判断出读取数据成功时，记录所述 读操作指令中包括的存储区的大小和起始地址。 【当前权利人】中兴通讯股份有限公司 【当前专利权人地址】广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦法务部 【专利权人类型】上市股份有限公司 【统一社会信用代码】9144030027939873X7
