【摘要】 本发明揭示一种发光组件发光亮度检测方法，该方法 包含下列步骤：a)致能该发光组件发光；b)由该处理装置 接收该频谱分析装置所获得的该第一部分光束的波长分 布数据；c)由该处理装置将该视效光感测装置的感测响应 函数与标准视效函数、或该视效函数误差，与该第一部分 光束的波长分布数据加权计算获得一个补偿比例；及d) 将该视效光感测装置测得的该第二部分光束亮度依该补 偿比例，补偿运算获得该发光组件所发光亮度。。微信 【专利类型】发明申请 【申请人】中茂电子(深圳)有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】518054广东省深圳市南山区登良路南油天安工业村4号厂房8楼 【申请人地区】中国 【申请人城市】深圳市 【申请人区县】南山区 【申请号】CN200810211709.0 【申请日】2008-09-23 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101685034A 【公开公告日】2010-03-31 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101685034B 【授权公告日】2012-02-01 【授权公告年份】2012.0 【IPC分类号】G01J1/10 【发明人】王遵义; 冯清章; 张志交 【主权项内容】： 。1.一种发光组件发光亮度检测方法，供检测机台检测该发 光组件所发光波长分布及发光亮度，该机台包括接收该发 光组件所发光束中的一个第一部分光束并检测其波长分 布的频谱分析装置、接收该发光组件所发光束中的一 个第二部分光束并检测其亮度的视效光感测装置、储存有 该视效光感测装置的感测响应函数与标准视效函数及/或 该感测响应函数与标准视效函数间的视效函数误差的记 忆装置、及处理装置，该方法包括下列步骤： a)致能该发光组件发光； b)由该处理装置接收该频谱分析装置所获得的该第一 部分光束的波长分布数据； c)由该处理装置将该视效光感测装置的感测响应函数 与标准视效函数、或该视效函数误差，与该第一部分 光束的波长分布数据加权计算获得一个补偿比例；及 d)将该视效光感测装置测得的该第二部分光束亮度依 该补偿比例，补偿运算获得该发光组件所发光亮度。 【当前权利人】中茂电子(深圳)有限公司 【当前专利权人地址】广东省深圳市南山区登良路南油天安工业村4号厂房8楼 【专利权人类型】有限责任公司(台港澳法人独资) 【统一社会信用代码】91440300618932715B 【家族引证次数】5.0
