【摘要】 本发明公开了一种片上系统芯片和对片上系统芯片进行测试的方法，该片上系统芯片包括：第一IO MUX，用于将外部测试信号发生器的测试数据传送到总线MUX上，并由总线MUX选择并驱动外设或者加速器进行测试；至少一个结果和状态模块，用于接收对外设和/或加速器的测试结果，并将测试结果发送到相应的第二IO MUX；至少一个第二IOMUX，用于将测试结果发送到外部测试数据分析器，以实现对测试结果的分析。通过上述技术方案，解决了SOC芯片不能够快速测试的问题，提高了芯片检测的正确率和效率，从而能够快速的挑选功能完好的芯片。 【专利类型】发明申请 【申请人】中兴通讯股份有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】518057 广东省深圳市南山区科技南路55号 【申请人地区】中国 【申请人城市】深圳市 【申请人区县】南山区 【申请号】CN200810168225.2 【申请日】2008-10-06 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101713813A 【公开公告日】2010-05-26 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101713813B 【授权公告日】2012-06-06 【授权公告年份】2012.0 【IPC分类号】G01R31/317 【发明人】陶建平 【主权项内容】1.一种片上系统芯片，包括处理器、DMA，其中，所述处理器、所述DMA通过总线MUX连接至外设和/或加速器并能够选择所述外设和/或所述加速器，其特征在于，所述片上系统芯片进一步包括：第一IO MUX，用于将外部测试信号发生器的测试数据传送到总线MUX上，并由所述总线MUX选择并驱动外设或者加速器进行测试；至少一个结果和状态模块，用于接收对所述外设和/或所述加速器的测试结果，并将所述测试结果发送到相应的第二IO MUX；至少一个所述第二IOMUX，用于将所述测试结果发送到所述外部测试数据分析器，以实现对所述测试结果的分析。 【当前权利人】深圳市中兴微电子技术有限公司 【当前专利权人地址】广东省深圳市南山区西丽街道留仙大道中兴工业园 【专利权人类型】上市股份有限公司 【统一社会信用代码】9144030027939873X7 【被引证次数】20 【被自引次数】3.0 【被他引次数】17.0 【家族引证次数】8.0 【家族被引证次数】20
