【摘要】 本发明提供一种用于测试无线基站侧基带处理芯片多径解调的方法和装 置，其中该装置包括多径产生单元、多径管理单元，其中，多径产生单元，用 于建立虚拟测试UE，在预定数目范围内产生随机数目的多径，确定多径的相 位与时延，并控制窗起始位置，以及控制窗向右或向左漂预定步进长 度；多径管理单元，用于向虚拟测试UE添加多径，并通知被测试的基带处理 芯片开始解调，以及根据上次与本次多径产生单元产生的多径情况，对多径进 行动态管理。本发明能够模拟移动终端在真实环境中穿行，大大提高了测试覆 盖率与测试效率。 【专利类型】发明申请 【申请人】中兴通讯股份有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】518057广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦 【申请人地区】中国 【申请人城市】深圳市 【申请人区县】南山区 【申请号】CN200810146665.8 【申请日】2008-09-04 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101668302A 【公开公告日】2010-03-10 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101668302B 【授权公告日】2013-06-05 【授权公告年份】2013.0 【IPC分类号】H04W24/06 【发明人】谭建华; 许祥滨; 操赛文; 汤顺; 范博源 【主权项内容】1.一种用于测试无线基站侧基带处理芯片多径解调的方法，其特征在于， 包括下列步骤： 步骤A：建立虚拟测试UE，并设置多径窗起始位置，在预定数目范 围内产生随机数目的多径； 步骤B：向所述虚拟测试UE添加上述步骤A产生的多径，被测试的基带 处理芯片开始解调； 步骤C：不断产生新的多径，所述新产生的多径落在所述多径窗内， 所述窗起始位置向右或向左漂预定步进长度； 步骤D：对所述虚拟测试UE的多径进行管理，被测试的基带处理芯片开 始解调； 步骤E：重复步骤C、步骤D，直到窗起始位置漂移到预定位置。 【当前权利人】深圳市中兴微电子技术有限公司 【当前专利权人地址】广东省深圳市南山区西丽街道留仙大道中兴工业园 【专利权人类型】上市股份有限公司 【统一社会信用代码】9144030027939873X7 【被引证次数】2 【被他引次数】2.0 【家族引证次数】3.0 【家族被引证次数】2
