【摘要】 一种通过分离波面整体倾斜扩大动态范围的哈特曼传感器，它可以测量具有大的倾斜的波面信息；其特征在于：与普通的哈特曼传感器相比，所述哈特曼传感器在缩束系统之后、微透镜之前加入了分光系统，该分光系统将部分信号光导出主光路；这部分光最终经过一个聚焦透镜聚焦到放到该透镜焦点处的光电探测器上，通过分析该焦斑的偏移情况可以得到入射波面的整体倾斜信息，将这部分信息与哈特曼传感器上得到波面信息相叠加就可以得到整个波面信息。本发明在普通哈特曼传感器的基础上加入一个匹配的分光路就实现了在不影响哈特曼测量精度的前提下测量大倾斜波面信息的功能；并且本发明结构简单，与普通哈特曼传感器相比成本增加很少。 【专利类型】发明授权 【申请人】中国科学院光电技术研究所 【申请人类型】科研单位 【申请人地址】610209 四川省双流350信箱 【申请人地区】中国 【申请人城市】成都市 【申请人区县】双流区 【申请号】CN200810113464.8 【申请日】2008-05-28 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101285735B 【公开公告日】2010-06-23 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101285735B 【授权公告日】2010-06-23 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】G01M11/02; G01J9/00 【发明人】饶学军; 杨金生; 张雨东; 饶长辉 【主权项内容】一种通过分离波面整体倾斜扩大动态范围的哈特曼传感器，包含有由前透镜(1)和后透镜(2)组成的缩束系统，和微透镜阵列(4)，第一光电探测器(5)；其特征在于：在由前透镜(1)和后透镜(2)组成的缩束系统之后微透镜阵列(4)之前的位置处，添加一个用于测量入射波面的整体平均倾斜的由分光镜(3)、反射镜(6)、聚焦透镜(7)和第二光电探测器(8)组成的分系统；其中第二光电探测器(8)置于聚焦透镜(7)的焦点处；第一光电探测器(5)位于微透镜阵列(4)焦点平面处；外界的被测光束被所述缩束系统缩束后，被分光镜(3)分为两束，一束经过微透镜阵列(4)到达第一光电探测器(5)，被第一光电探测器(5)以光斑点阵的形式采集；另一束进入分系统经过反射镜(6)后被聚焦透镜(7)聚焦到第二光电探测器(8)上，被第二光电探测器(8)以远场光斑的形式采集到；经过分光镜(3)分光后的两束光分别达到第一光电探测器(5)和第二光电探测器(8)上的光程相等；所述分系统测量所述被测光束的波面的整体倾斜，在第一光电探测器(5)获得的信息的基础上叠加上所述被测光束的波面的整体倾斜信息就得到所述被测光束的波面的整体信息。 【当前权利人】中国科学院光电技术研究所 【当前专利权人地址】四川省双流350信箱 【统一社会信用代码】12100000450811820A 【引证次数】8.0 【自引次数】3.0 【他引次数】5.0 【家族引证次数】8.0 【家族被引证次数】6
