【摘要】 本发明公开了一种X射线荧光光谱微量样品的制样方法及其产品，采用以下步骤：将硼酸粉末在标准模具中冲压成型，制成硼酸片，再根据待测样品的数目，以及每种被检测样品的量确定样品孔的直径和深度，选择与样品孔相等直径的打孔设备，在硼酸片上沿小于硼酸片外圆直径的圆上打出若干个分布均匀或对称，或分布不均匀或不对称的底部不透的样品孔，然后将每种不同的待测样品装入对应的样品孔中，将样品压紧压平，最后将样品制样放在X射线荧光光谱仪上进行检测分析；本发明可针对微量样品进行检测分析，具有测量强度大，灵敏度高，可同时对多个样品进行连续分析，节约硼酸的使用量，操作简便，检测效率高等优点。。 【专利类型】发明授权 【申请人】攀钢集团研究院有限公司; 攀钢集团攀枝花钢铁研究院有限公司; 攀钢集团钢铁钒钛股份有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】611731 四川省成都市高新区(西区)天朗路1号 【申请人地区】中国 【申请人城市】成都市 【申请号】CN200810182312.3 【申请日】2008-11-21 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101413854B 【公开公告日】2010-12-08 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101413854B 【授权公告日】2010-12-08 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】G01N1/36; G01N23/223 【发明人】周铭; 徐本平 【主权项内容】一种X射线荧光光谱微量样品的制样方法，其特征在于采用以下步骤进行制样：A制备硼酸片：取硼酸粉末放入标准模具中冲压成型，制成硼酸片；B制备样品孔：根据待测样品的数目，以及每种被检测样品的量确定样品孔的直径和深度，选择与样品孔相等直径的打孔设备，在硼酸片上打出若干个底部不透的样品孔；C装待测样品：将每种不同的待测样品装入对应的样品孔中，将样品压紧压平。 【当前权利人】攀钢集团研究院有限公司; 攀枝花新钢钒股份有限公司; 攀钢集团攀枝花钢铁研究院有限公司 【当前专利权人地址】四川省成都市高新区合作路89号17栋1单元10层1006号; 四川省攀枝花市东区向阳村科技处; 四川省攀枝花市东区桃源街90号 【专利权人类型】有限责任公司(非自然人投资或控股的法人独资); 有限责任公司(非自然人投资或控股的法人独资) 【统一社会信用代码】915101007826673199; 915104004509616269 【被引证次数】2 【被他引次数】2.0 【家族被引证次数】10
