【摘要】 本发明提供一种主动阵列基板、液晶显示面板及制造液晶显示面板的方法。主动阵列基板包括衬底、像素阵列、内测试电路以及外测试分支线。像素阵列设置于该衬底上，该像素阵列包括多个导线。内测试电路与该多个导线中的一部分导线电连接，包括：内测试栅极线；内测试栅极信号模组，与内测试栅极线连接；多个测试开关，与内测试栅极线电连接，多个测试开关分别与多个导线中的一部分对应连接；至少一内测试信号线，与多个测试开关连接；内测试信号模组，与内测试信号线电连接。外测试分支线与该多个导线中的该部分导线直接连接。采用本发明提供的主动阵列基板、液晶显示面板及制造液晶显示面板的方法，可提高测试能力，减少测试时的误判几率。。 【专利类型】发明授权 【申请人】友达光电股份有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】中国台湾新竹市 【申请人地区】中国 【申请人城市】台湾省 【申请号】CN200810168046.9 【申请日】2008-09-25 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101359671B 【公开公告日】2010-12-01 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101359671B 【授权公告日】2010-12-01 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】H01L27/12; H01L23/544; G02F1/13; G02F1/1362; G02F1/1333 【发明人】陈勇志; 刘俊欣; 刘柏源 【主权项内容】一种主动阵列基板，其特征在于，该主动阵列基板包括：一衬底；一像素阵列，设置于所述衬底上，所述像素阵列包括多个导线；一内测试电路，与所述多个导线中的一部分导线电连接；以及一外测试分支线，与所述多个导线中的所述部分导线直接连接；其中，所述内测试电路包括：一内测试栅极线；一内测试栅极信号模组，与所述内测试栅极线连接；多个测试开关，与所述内测试栅极线电连接，所述多个测试开关分别与所述多个导线中的一部分对应连接；至少一内测试信号线，与所述多个测试开关连接；以及一内测试信号模组，与所述内测试信号线电连接。 【当前权利人】友达光电股份有限公司 【当前专利权人地址】中国台湾新竹市 【家族被引证次数】12
