【摘要】 本发明提供一种雷射测距装置及其控制方法，可以测量远距离及近距离的目标物，所述雷射测距装置包括发射组件，用以对该目标物发射测量光、接收组件，用以接收该目标物反射该测量光的反射光、反射组件，用以反射该反射光至该接收组件、聚焦透镜，用以将该反射光透过该反射组件聚焦在该接收组件、以及驱动模块，藉由转动以调整该反射组件的角度；以及控制单元，依据该接收组件接收该反射光的强度大小与预定值比较的结果以控制该驱动模块是否转动。 【专利类型】发明申请 【申请人】亚洲光学股份有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】中国台湾台中县潭子乡台中加工出口区南二路22-3号 【申请人地区】中国 【申请人城市】台湾省 【申请号】CN200810181486.8 【申请日】2008-11-11 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101738609A 【公开公告日】2010-06-16 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101738609B 【授权公告日】2012-05-23 【授权公告年份】2012.0 【IPC分类号】G01S7/481; G01S17/08; G01S17/00 【发明人】蔡宗岳 【主权项内容】一种雷射测距装置，用于测量远距离及近距离的目标物，其特征在于，包括：发射组件，用以对该目标物发射测量光；接收组件，用以接收该目标物反射该测量光的反射光；反射组件，用以反射该反射光至该接收组件；聚焦透镜，用以将该反射光通过该反射组件聚焦在该接收组件；驱动模块，藉由转动以调整该反射组件的角度；以及控制单元，依据该接收组件接收该反射光的强度大小与预定值比较的结果以控制该驱动模块是否转动。 【当前权利人】亚洲光学股份有限公司 【当前专利权人地址】中国台湾台中县潭子乡台中加工出口区南二路22-3号 【引证次数】1.0 【被引证次数】12 【他引次数】1.0 【被自引次数】1.0 【被他引次数】11.0 【家族引证次数】7.0 【家族被引证次数】12
