【摘要】 本发明可换用不同探针卡的IC测试机台，主要是在基座上的容置槽内可选择式放入不同尺寸的探针卡，其是以共享的三根定位梢予以定位；不同的探针卡却有相同且相对应的多个内环接点，并可与测试头上的探针座所设的多个内环探针分别相应对合而电性连接，此外，较大的探针卡外围的多个外环接点亦分别相应对合至探针座的多个外环探针而电性连接。因此，一部IC测试机台可换用两种不同尺寸的探针卡进行测试，不需拆换测试载板、及修改测试机台内部软件，即能达到快速置换不同探针卡的目的，可降低产品跨机测试时所需的成本，并能提升测试机台的竞争力。 【专利类型】发明申请 【申请人】京元电子股份有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】中国台湾新竹市 【申请人地区】中国 【申请人城市】台湾省 【申请号】CN200810176063.7 【申请日】2008-11-11 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101738575A 【公开公告日】2010-06-16 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101738575B 【授权公告日】2013-08-21 【授权公告年份】2013.0 【IPC分类号】G01R31/28; G01R1/073 【发明人】蔡秉谚; 陈峰杰 【主权项内容】一种可换用不同探针卡的IC测试机台，包括：一基座，其上设有一承载台，该承载台凹设有一容置槽，该容置槽内凸伸至少二定位梢；一测试头，可分离式地设置于该基座的该承载台上方，该测试头下方组设有一测试载板、及一探针座，该探针座组设于该测试载板上并对应于该基座的该容置槽，该探针座设有多个内环探针、及多个外环探针，该多个内环探针、及该多个外环探针并分别与该测试载板电性连接；一第一探针卡，其包括多个环形接点、及至少二定位孔；以及一第二探针卡，其大于该第一探针卡，该第二探针卡包括多个内环接点、多个外环接点、及至少二定位通孔；其中，该基座的该容置槽是选择式地容置有该第一探针卡，该第一探针卡的该至少二定位孔并对应穿套在该基座的该至少二定位梢上予以定位，该第一探针卡的该多个环形接点并分别相应对合至该测试头的该多个内环探针而电性连接；该基座的该容置槽或可选择式地容置有该第二探针卡，该第二探针卡的该至少二定位通孔并对应穿套在该基座的该至少二定位梢上予以定位，该第二探针卡的该多个内环接点并分别相应对合至该测试头的该多个内环探针而电性连接，该第二探针卡的该多个外环接点并分别相应对合至该测试头的该多个外环探针而电性连接。 【当前权利人】京元电子股份有限公司 【当前专利权人地址】中国台湾新竹市 【被引证次数】10 【被自引次数】2.0 【被他引次数】8.0 【家族引证次数】7.0 【家族被引证次数】11
