【摘要】 本发明是有关一种晶片测试机及晶片测试方法。该晶片测试机，包含： 至少一晶片插座：以及至少一晶片取放装置，该晶片取放装置具有一取放 机构及一下压机构，该下压机构具有一测试光源。该晶片测试方法，应用 于一系统层级测试，其包括以下步骤：提供一晶片；藉由一晶片取放装置将 该晶片移至一晶片插座，其中，该晶片插座具有一固定机构，用以固定该晶 片，该晶片取放装置具有一取放机构及一下压机构，该下压机构具有一测试 光源；以及将该晶片取放装置移出该晶片插座。本发明的晶片测试机，每 一晶片插座具有独立机构，可分别进行晶片取放与下压，不会因为等待晶片 取放装置而闲置，因此测试的效率可得以提升。。 【专利类型】发明申请 【申请人】京元电子股份有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】中国台湾新竹市 【申请人地区】中国 【申请人城市】台湾省 【申请号】CN200810146845.6 【申请日】2008-08-25 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101661077A 【公开公告日】2010-03-03 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101661077B 【授权公告日】2012-07-18 【授权公告年份】2012.0 【IPC分类号】G01R31/26; H01L21/66 【发明人】温进光 【主权项内容】1、一种晶片测试机，其特征在于其包含： 至少一晶片插座：以及 至少一晶片取放装置，该晶片取放装置具有一取放机构及一下压机构， 该下压机构具有一测试光源。 【当前权利人】京元电子股份有限公司 【当前专利权人地址】中国台湾新竹市 【家族引证次数】4.0
