【摘要】 本发明提供一种低密度校验码编解码装置和方法，用以实现数据传输。该装置包含LDPC编码器；穿孔/重复图样生成装置，用于根据穿孔/重复序列表生成穿孔或重复图样，穿孔/重复序列表标识了穿孔或重复LDPC编码器编码后码字的变量节点的顺序；穿孔/重复装置，其用于根据穿孔/重复图样生成装置生成的穿孔或重复图样对LDPC编码器编码后的码字进行穿孔或重复；改变码率后码字的解码器，用于对改变码率后的码字进行译码。本发明能够有效地提高编解码性能，且适用于任何方法构造的LDPC码，包括规则码和非规则码，能够产生任意码率的编译码。 【专利类型】发明授权 【申请人】中国科学院计算技术研究所 【申请人类型】科研单位 【申请人地址】100080 北京市海淀区中关村科学院南路6号 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】海淀区 【申请号】CN200810057536.1 【申请日】2008-02-02 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101227193B 【公开公告日】2010-06-02 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101227193B 【授权公告日】2010-06-02 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】H03M13/11; H04L1/00 【发明人】纪雯; 陈益强 【主权项内容】一种低密度校验码的编码装置，其特征在于，所述装置包括：LDPC编码器，用于对信源传输的数据进行低密度校验码编码；穿孔/重复序列表计算装置，其用于根据变量节点对码字恢复的影响程度计算所述穿孔/重复序列表，其中所述穿孔/重复序列表标识了穿孔或重复所述LDPC编码器编码后码字的变量节点的顺序；穿孔/重复图样生成装置，用于生成穿孔或重复图样，其中对于规则码，首先计算期望的码长，根据规则码的码长和期望的码长的差计算穿孔/重复数量，从而利用所述穿孔/重复序列表生成所述穿孔/重复图样，对于非规则码，根据最优度分布和所述穿孔/重复序列表生成所述穿孔/重复图样，所述最优度分布表示了每个码字在不同码率下变量节点的最优的度数分布；穿孔/重复装置，其用于根据穿孔/重复图样生成装置生成的穿孔或重复图样对所述LDPC编码器编码后的码字进行穿孔或重复。 【当前权利人】中国科学院计算技术研究所 【当前专利权人地址】北京市海淀区中关村科学院南路6号 【统一社会信用代码】12100000400012342E 【引证次数】2.0 【他引次数】2.0 【家族引证次数】2.0 【家族被引证次数】18
