【摘要】 本发明公开了一种图像检测方法，该方法包括，采集多幅待检测原始图像，将所述多幅待检测原始图像叠加；将叠加图像进行划分，划分为多个小图像块，从所述多个小图像块中选取至少一个满足条件的小图像块作为基准区域；根据所述基准区域进行图像检测。同时，本发明还公开了一种图像检测装置。本发明实施例在原始图像的基础上从全局的观点检测坏点，提高图像坏点检测的精度、减小计算量。。 【专利类型】发明授权 【申请人】北京中星微电子有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】100083 北京市海淀区学院路35号世宁大厦15层 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】海淀区 【申请号】CN200810100928.1 【申请日】2008-02-26 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101242542B 【公开公告日】2010-04-21 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101242542B 【授权公告日】2010-04-21 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】H04N9/04; H04N17/00 【发明人】沈操 【主权项内容】一种图像检测方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：采集多幅待检测原始图像，将所述多幅待检测原始图像对应像素点的灰度值相加，求此相加值的平均值，将此平均值作为对应像素点的灰度值，得到叠加图像；将叠加图像进行划分，划分为多个小图像块，计算所述多个小图像块的灰度值的平均值和灰度值的方差值，将所述灰度值的方差值和设定的方差阈值进行比较，当小图像块的灰度值的方差值小于设定的方差阈值时，将所述小图像块作为基准区域；求所述基准区域的灰度值的平均值，将补偿后图像的每个像素点的灰度值和所述平均值的差值与差值阈值进行比较；当补偿后图像的像素点的灰度值与所述平均值的差值的绝对值小于设定的差值阈值时，判定此像素点为正常点；当补偿后图像的像素点的灰度值与所述平均值的差值的绝对值大于设定的差值阈值时，判定此像素点为坏点。。： 【当前权利人】北京中星微电子有限公司 【当前专利权人地址】北京市海淀区学院路35号世宁大厦15层 【专利权人类型】有限责任公司(外国法人独资) 【统一社会信用代码】911101087002349407 【引证次数】3.0 【自引次数】1.0 【他引次数】2.0 【家族引证次数】3.0 【家族被引证次数】27
