【摘要】 本发明公开了一种根据被试品自身辐射发射与背景环境电平，通过比较与插值来确定辐射安全裕度考查频点的方法。按照本发明方法选择的频点数要比被试品自身辐射发射的频点数少很多，而且频谱包络基本和被试品自身辐射发射的频谱包络一致，即对于关键频点基本上都不会出现遗漏现象，从而大大提高了测试效率和测试的准确性；另一方面，由于测试频点减少，带来测试时间的缩短，这对于测试设备和仪器，尤其像功放类使用寿命有限的设备也是一种保护。 【专利类型】发明授权 【申请人】北京航空航天大学 【申请人类型】学校 【申请人地址】100191 北京市海淀区学院路37号 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】海淀区 【申请号】CN200810224302.1 【申请日】2008-10-16 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101373201B 【公开公告日】2010-09-08 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101373201B 【授权公告日】2010-09-08 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】G01R31/00 【发明人】苏东林; 戴飞; 宋振飞; 谢树果; 史德民; 高万峰 【主权项内容】一种确定辐射安全裕度考查频点的方法，其特征在于辐射安全裕度考查频点获取的步骤如下：步骤101：被试品处于未工作状态下，获取背景环境电平N辐射(f，u0-E)；对于辐射安全裕度，使用接收天线测量被试品所在测试区域的背景环境电平N辐射(f，u0-E)，测试频点数为n；f表示测试频率，单位为Hz；u0-E表示背景环境电平电场强度，单位为dBμV/m；步骤102：被试品处于工作状态下，获取被试品自身辐射发射E辐射(f，u1-E)；对于辐射安全裕度，按照测试距离要求使用接收天线测量被试品自身辐射发射E辐射(f，u1-E)，测试频率和测试频点数与步骤101相同；u1-E表示在辐射安全裕度测试中的被试品自身辐射发射强度，单位为dBμV/m；步骤103：获取差值ΔE依据步骤102中获得的u1-E与步骤101中获得的u0-E进行差值比较，得到辐射安全裕度测试中差值ΔE；该ΔE是被试品自身辐射发射强度高出背景环境电平的值；步骤104：筛选考查频点f1根据设定的阈值α、以及步骤103中的ΔE采用峰值检波方式进行筛选考查频点f1；该f1是从f中筛选的ΔE高于α对应的峰值频点；f1中的频率点数为m，且m≤n；步骤105：计算插值频点f2利用步骤101中的n、步骤104中的m、缩比率β、步骤101中的测试频率f计算插值频点f2；其中计算步骤为：步骤151：计算步骤101中的n和步骤104中的m的比值r＝n/m，并取比值r的整数部分[r]；步骤152：比较获得r的整数部分[r]与缩比率β之间的相对较小值min([r]，β)；步骤153：依据min([r]，β)对f进行间隔选取得到插值频点f2，频点间隔数为min([r]，β)；步骤106：对步骤104中的f1与步骤105中的f2进行并集处理，得到初选频点f3；步骤107：相邻频点筛选依据频率步进最小值γ对步骤106中的f3进行相邻频点筛选，得到辐射安全裕度考查频点f4。 【当前权利人】北京航空航天大学 【当前专利权人地址】北京市海淀区学院路37号 【统一社会信用代码】12100000400011227Y 【家族被引证次数】2
