【摘要】 本发明公开了一种测量物质有效原子序数的装置，所述装置包 括：X射线源，向被测物体发射不同能量的X射线；切伦科夫探测 器，接收通过所述被测物体的X射线，并生成第一电信号；能量沉 积类探测器，接收通过所述被测物体的X射线，并生成第二电信号； 处理器，用于根据所述第一电信号和第二电信号，获取所述被测物体 的有效原子序数。本发明还公开了一种测量物质有效原子序数的方 法。本发明通过将切伦科夫探测器和能量沉积类探测器相结合测量物 质有效原子序数的方法，相对于能量较低的X的光子，能量较高的X 射线光子在切伦科夫探测器探测时更容易形成较大的信号，从而增强 了获取的物质有效原子序数的分辨效果。 【专利类型】发明申请 【申请人】清华大学; 同方威视技术股份有限公司 【申请人类型】企业,学校 【申请人地址】100084北京市海淀区清华园北京100084-82信箱 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】海淀区 【申请号】CN200810116760.3 【申请日】2008-07-16 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101629917A 【公开公告日】2010-01-20 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101629917B 【授权公告日】2011-09-14 【授权公告年份】2011.0 【发明人】李树伟; 王义; 李元景; 李金; 康克军; 李玉兰; 杨祎罡; 岳骞; 张清军; 赵书清; 朱维彬; 孔祥众 【主权项内容】1、一种测量物质有效原子序数的装置，其特征在于，所述装置 包括： X射线源，向被测物体发射不同能量的X射线； 切伦科夫探测器，接收通过所述被测物体的X射线，并生成第 一电信号； 能量沉积类探测器，接收通过所述被测物体的X射线，并生成 第二电信号； 处理器，用于根据所述第一电信号和第二电信号，获取所述被测 物体的有效原子序数。 【当前权利人】清华大学; 同方威视技术股份有限公司 【当前专利权人地址】北京市海淀区清华园北京100084-82信箱; 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层 【专利权人类型】公立; 其他股份有限公司(非上市) 【统一社会信用代码】12100000400000624D; 91110108710927548B 【被引证次数】18 【被自引次数】13.0 【家族被引证次数】18
