【摘要】 本发明提出一种芯片调试方法，包括以下步骤：调试模块接收微控制单元MCU发送的灌入指令和对应的灌数点，并将输入所述灌数点的灌入数据缓存在所述调试模块的写数据寄存器中；当所述写数据寄存器中缓存的所述灌入数据达到预定bit值时，所述调试模块将缓存的所述灌入数据输入所述灌数点中，同时向时钟模块发送时钟使能信号以在灌数时开启所述灌数点的时钟。在本发明中调试模块的逻辑控制由MCU通过APB总线配置调试模块的寄存器实现，灌数和抓数方式简单灵活。 【专利类型】发明申请 【申请人】易视芯科技(北京)有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】100086北京市海淀区中关村大街32号和盛大厦12层 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】海淀区 【申请号】CN200810246880.5 【申请日】2008-12-30 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101769988A 【公开公告日】2010-07-07 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101769988B 【授权公告日】2013-11-06 【授权公告年份】2013.0 【IPC分类号】G01R31/317 【发明人】张明明; 王军; 阎斌; 何晶 【主权项内容】一种芯片调试方法，其特征在于，包括以下步骤：调试模块接收微控制单元MCU发送的灌入指令和对应的灌数点，并将输入所述灌数点的灌入数据缓存在所述调试模块的写数据寄存器中；当所述写数据寄存器中缓存的所述灌入数据达到预定bit值时，所述调试模块将缓存的所述灌入数据输入所述灌数点中，同时向时钟模块发送时钟使能信号以在灌数时开启所述灌数点的时钟。 【当前权利人】易视芯科技(北京)有限公司 【当前专利权人地址】北京市海淀区中关村大街32号和盛大厦12层 【专利权人类型】有限责任公司 【统一社会信用代码】9111010867571807XD 【被引证次数】11 【被他引次数】11.0 【家族引证次数】3.0 【家族被引证次数】11
