【摘要】 本发明提供了一种比辐射率二维分布及尺度转换测量方法和仪器。该方法和仪器利用天穹作为冷辐射源、黑体布棚作为常温辐射源，即相对的热辐射源，利用计算机系统智能控制黑体布棚周期性的罩住目标物和迅速撤离，实现交替改变环境辐射照度的作用；用计算机系统控制参考板的水平移动，实现目标物和参考板交替自动观测；利用热像仪作为测量感应器，由其采集的热像图反演得出比辐射率二维分布信息；利用多像元的热红外辐射、表面温度及比辐射率的二维分布值，可以进行多种次级尺度地物组分的组合，从而能够进行表面温度和比辐射率的尺度转换研究，为探索比辐射率的空间尺度转换，解决这一科学难题提供一种高效测试平台和途径。 （，） 【专利类型】发明授权 【申请人】中国科学院地理科学与资源研究所 【申请人类型】科研单位 【申请人地址】100101 北京市朝阳区大屯路甲11号 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】朝阳区 【申请号】CN200810241091.2 【申请日】2008-12-30 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101458123B 【公开公告日】2010-06-23 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101458123B 【授权公告日】2010-06-23 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】G01J5/00; G01J5/52 【发明人】张仁华; 孙晓敏; 田静; 朱治林; 苏红波; 陈少辉; 唐新斋 【主权项内容】一种比辐射率二维分布及其尺度转换的测量仪器包括：热像仪[1]、热像仪支架[2]和底座[3]，其特征在于：所述底座[3]包括由垂直立柱[9]支撑的上下两层水平板，其下层水平板上放置有目标物托盘[5]，上层水平板中间开有观测窗口[12]，在下层水平板和上层水平板之间水平设置有抽屉式托盘[4]，其上放置有参考板；底座[3]上层水平板的观测窗口[12]旁边垂直设置有热像仪支架[2]，热像仪支架[2]顶端设置有热像仪[1]，热像仪[1]的镜头垂直向下正对观测窗口[12]；所述测量仪器包括有黑体布棚[8]，黑体布棚[8]为柱体结构，包括顶面、底框和可伸缩柱体，其柱体内表面衬有黑色不透光材料，其顶面中心开有孔径略大于热像仪镜头外径的通孔；黑体布棚[8]底框尺寸大于观测窗口[12]；底座[3]上层水平板上垂直设置有升降导轨[10]，其上设置有水平旋转驱动电机[7]，该电机与黑体布棚[8]底框连接，能够带动黑体布棚[8]围绕升降导轨[10]水平旋转；升降导轨[10]上设置有垂直升降传动带[13]及垂直升降驱动电机[6]，垂直升降传动带[13]通过连接臂与黑体布棚[8]顶面连接，能够带动黑体布棚[8]顶面做垂直升降运动，从而使黑体布棚[8]的柱体能够垂直伸缩；黑体布棚[8]的第一状态是通过与升降导轨[10]的连接旋转在底座[3]之外，黑体布棚[8]的第二状态是通过水平旋转驱动电机[7]的带动旋转到底座[3]上层水平板上，黑体布棚[8]底框将观测窗口[12]罩在其中；黑体布棚[8]的第三状态是在第二状态的基础上，通过垂直升降驱动电机[6]的带动，其顶面上升至热像仪[1]，热像仪[1]的镜头插入黑体布棚[8]顶面的中心孔内。 【当前权利人】中国科学院地理科学与资源研究所 【当前专利权人地址】北京市朝阳区大屯路甲11号 【统一社会信用代码】121000004000115850 【引证次数】5.0 【被引证次数】1 【他引次数】5.0 【被他引次数】1.0 【家族引证次数】5.0 【家族被引证次数】9
