【摘要】 本发明涉及一种液晶显示器面板和掩模板，其中液晶显示器面板包括 阵列基板和彩膜基板，在所述阵列基板有效区域的像素区域内形成有对位精 度测量检查标记，在所述彩膜基板上与所述对位精度测量检查标记对应的位 置形成有黑矩阵，所述黑矩阵用于遮挡所述对位精度测量检查标记。掩模板 包括：重复使用区域和非重复使用区域，在所述重复使用区域和非重复使用 区域的有效区域中设置有对位精度测量检查标记。本发明有效地解决了由对 位不良而引发的问题，使得缝合对接(Stitch)区域的对位精度可以控制在所需 要的范围之内，避免了薄膜晶体管液晶显示器(TFT-LCD)出现不良问题。 【专利类型】发明申请 【申请人】北京京东方光电科技有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】100176北京市经济技术开发区西环中路8号 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】大兴区 【申请号】CN200810119136.9 【申请日】2008-08-27 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101661220A 【公开公告日】2010-03-03 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101661220B 【授权公告日】2013-03-13 【授权公告年份】2013.0 【IPC分类号】G03F1/14; G03F1/00; G02F1/1362; G02F1/133; G03F1/44 【发明人】吕敬 【主权项内容】1、一种掩模板，包括重复使用区域和非重复使用区域，其特征在于， 在所述重复使用区域和非重复使用区域的有效区域中设置有对位精度测量检 查标记。 【当前权利人】高创(苏州)电子有限公司; 京东方科技集团股份有限公司 【当前专利权人地址】江苏省苏州市吴江经济技术开发区大兢路1088号; 北京市朝阳区酒仙桥路10号 【专利权人类型】有限责任公司(台港澳与境内合资) 【统一社会信用代码】911103027493533932 【被引证次数】30 【被自引次数】19.0 【被他引次数】11.0 【家族引证次数】2.0 【家族被引证次数】32
