【摘要】 本发明公开了一种残像等级评定方法及装置，涉及显示技术领域，解决了 现在人眼对显示器残像等级评定不准确的问题。本发明实施例通过获取到残像 实验前后显示器显示参照图案的初始亮度和目标亮度，并计算目标亮度和初始 亮度的差值，通过这个差值准确评定显示器的残像等级。本实施例主要用于对 显示器的残像进行等级评定，如：液晶显示器、等离子显示器的残像等级评定 等等。 【专利类型】发明申请 【申请人】北京京东方光电科技有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】100176北京市经济技术开发区西环中路8号 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】大兴区 【申请号】CN200810118781.9 【申请日】2008-08-22 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101655409A 【公开公告日】2010-02-24 【公开公告年份】2010 【发明人】张培林 【主权项内容】1、一种残像等级评定方法，其特征在于，包括： 获取显示器显示参照图案的初始亮度； 对显示器进行残像实验； 获取经过残像实验后的显示器显示参照图案的目标亮度； 计算所述目标亮度和初始亮度的亮度差值； 根据所述亮度差值确定所述显示器的残像等级。 【当前权利人】北京京东方光电科技有限公司 【当前专利权人地址】北京市经济技术开发区西环中路8号 【专利权人类型】有限责任公司(台港澳与境内合资) 【统一社会信用代码】911103027493533932 【被引证次数】TRUE 【家族被引证次数】TRUE
