【摘要】 本发明公开了一种测试方法及装置，该测试方法包括：设定一系列测试 电压值，所述测试电压值从小到大依次为第一电压值、第二电压值、......、 第N-1电压值、第N电压值；向液晶显示面板提供测试电压，提供所述测试 电压的次序为第N电压值、第一电压值、第N-1电压值、第二电压值、......； 分别测量所述测试电压值下的所述液晶显示面板的透过率。使液晶分子在测 试电压的作用下，交替对称正反向偏转，起到在较短的时间间隔内恢复液晶 分子形变的作用，减小测试数据的误差，提高VT曲线的准确性，能够为伽马 调谐提供较高精度的数据。。 【专利类型】发明申请 【申请人】北京京东方光电科技有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】100176北京市经济技术开发区西环中路8号 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】大兴区 【申请号】CN200810223446.5 【申请日】2008-09-27 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101685207A 【公开公告日】2010-03-31 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101685207B 【授权公告日】2011-12-28 【授权公告年份】2011.0 【IPC分类号】G02F1/13; G01R31/00 【发明人】黄婕妤; 于洪俊; 吴昊 【主权项内容】1、一种测试方法，其特征在于包括： 设定一系列测试电压值，所述测试电压值从小到大依次为第一电压值、 第二电压值、......、第N-1电压值、第N电压值； 向液晶显示面板提供测试电压，提供所述测试电压的次序为第N电压值、 第一电压值、第N-1电压值、第二电压值、......； 分别测量所述测试电压值下的所述液晶显示面板的透过率。 【当前权利人】京东方科技集团股份有限公司; 北京京东方光电科技有限公司 【当前专利权人地址】北京市朝阳区酒仙桥路10号; 北京市大兴区北京经济技术开发区西环中路8号 【专利权人类型】有限责任公司(台港澳与境内合资) 【统一社会信用代码】911103027493533932 【被引证次数】19 【被自引次数】9.0 【被他引次数】10.0 【家族引证次数】3.0 【家族被引证次数】19
