【摘要】 本发明公开了一种基于磁流体折射率改变检测磁场变化的装置，包括：第一 光源输出装置、传输装置、磁场测试装置以及第一接收检测装置。磁场测试装置 中包括了折射率测试装置，电磁铁，长周期光纤光栅，以及磁流体样品。长周期 光纤光栅置于装有磁流体的毛细管后，置于电磁铁的两个磁极中间。第一光源输 出装置、磁场测试装置以及第一接收检测装置之间使用传输装置连接，第一光源 输出装置输出的光在传输装置内传播，经过磁场测试装置后光信号被第一接收检 测装置接收。本发明在常温条件下实现了磁场作用下基于磁流体折射率改变从而 检测磁场变化的装置，灵敏度极高，达到了0.0025nm/Gs，其工作范围可以从0Gs 到1500Gs。 【专利类型】发明授权 【申请人】上海交通大学 【申请人类型】学校 【申请人地址】200240上海市闵行区东川路800号 【申请人地区】中国 【申请人城市】上海市 【申请人区县】闵行区 【申请号】CN200810037409.5 【申请日】2008-05-15 【申请年份】2008 【公开公告号】CN100593727C 【公开公告日】2010-03-10 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN100593727C 【授权公告日】2010-03-10 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】G01R33/02; G01N21/41 【发明人】狄子昀; 陈险峰; 刘婷 【主权项内容】1.一种基于磁流体折射率改变检测磁场变化的装置，包括：第一光源输出 装置、传输装置、磁场测试装置以及第一接收检测装置，其特征在于，所述磁场 测试装置包括折射率测试装置、电磁铁、长周期光纤光栅以及磁流体样品，长周 期光纤光栅置于装有磁流体的毛细管后，置于电磁铁的两个磁极中间，第一光源 输出装置、磁场测试装置以及第一接收检测装置之间使用传输装置连接，第一光 源输出装置输出的光在传输装置内传播，经过磁场测试装置后光信号被第一接收 检测装置接收，折射率测试装置和磁流体样品连接在一起，以上所有部件之间的 连接均通过光纤实现。。 【当前权利人】上海交通大学 【当前专利权人地址】上海市闵行区东川路800号 【统一社会信用代码】1210000042500615X0 【引证次数】3.0 【他引次数】3.0 【家族引证次数】3.0 【家族被引证次数】32
