【摘要】 本发明公开了用于测量偏振模色散矢量的方法，包括以下步骤：使指定波长的光分别按照三种输入偏振态通过待测器件，三种输入偏振态满足线性无关；分别测量光通过待测器件后的三种输出偏振态，将三种输入偏振态和三种输出偏振态记录为一组计算数据；重复上述步骤，记录多个不同指定波长下的多组计算数据；和根据各组计算数据计算各指定波长下的米勒矩阵，并根据米勒矩阵计算待测器件的偏振模色散矢量。本发明还公开了采用该方法的测量装置。本发明能使测量过程中由波长和输入偏振态的调节而引入的误差降低，提高偏振模色散矢量的测量精度。 -官网 【专利类型】发明授权 【申请人】深圳市杰普特电子技术有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】518109 广东省深圳市宝安区龙华镇和平东路中国振华工业园5楼 【申请人地区】中国 【申请人城市】深圳市 【申请人区县】宝安区 【申请号】CN200810242151.2 【申请日】2008-12-30 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101476975B 【公开公告日】2010-09-29 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101476975B 【授权公告日】2010-09-29 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】G01M11/02; G01J4/00 【发明人】刘健; 周俊强; 董晖; 黄治家 【主权项内容】一种用于测量偏振模色散矢量的方法，其特征在于，包括以下步骤：A、使指定波长的光分别按照三种输入偏振态通过待测器件，所述三种输入偏振态满足线性无关；B、分别测量所述光通过所述待测器件后的三种输出偏振态，将所述三种输入偏振态和三种输出偏振态记录为一组计算数据；重复上述步骤A、B，记录多个不同指定波长下的多组计算数据；和C、根据各组计算数据计算各指定波长下的米勒矩阵，并根据所述米勒矩阵计算所述待测器件的偏振模色散矢量。 数据由整理 【当前权利人】深圳市杰普特光电股份有限公司 【当前专利权人地址】广东省深圳市龙华区观湖街道鹭湖社区观盛五路5号泰豪科技园泰豪科技301 【专利权人类型】有限责任公司 【统一社会信用代码】9144030078830456X1 【家族被引证次数】1
