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测试装置及测试方法专利

发布时间:2026-07-05

【摘要】 本发明提供一种测试装置,用于测试元件的防电磁干扰涂层的电阻,所述测试装置包括 承载基板与电阻计,所述承载基板具有阳极测试接点、多个收容孔以及阴极测试接点,所述 多个收容孔用于收容多个待测试元件,所述阴极测试接点与阳极测试接点相对,所述阳极测 试接点、多个收容孔以及阴极测试接点之间通过导电介质依次连接,所述电阻计与所述阳极 测试接点和阴极测试接点电连接,用于获得阳极测试接点与阴极测试接点之间的电阻。本发 明还提供一种利用该测试装置的测试方法。 【专利类型】发明申请 【申请人】鸿富锦精密工业(深圳)有限公司; 鸿海精密工业股份有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】518109广东省深圳市宝安区龙华镇油松第十工业区东环二路2号 【申请人地区】中国 【申请人城市】深圳市 【申请人区县】宝安区 【申请号】CN200810304206.8 【申请日】2008-08-26 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101661060A 【公开公告日】2010-03-03 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101661060B 【授权公告日】2012-08-29 【授权公告年份】2012.0 【IPC分类号】G01R27/02 【发明人】王仲培 【主权项内容】1.一种测试装置,用于测试元件的防电磁干扰涂层的电阻,所述测 试装置包括承载基板与电阻计,其特征在于,所述承载基板具有阳极测试接点、多个收容孔 以及阴极测试接点,所述多个收容孔用于收容多个待测试元件,所述阴极测试接点与阳极测 试接点相对,所述阳极测试接点、多个收容孔以及阴极测试接点之间通过导电介质依次连接 ,所述电阻计与所述阳极测试接点和阴极测试接点电连接,用于获得阳极测试接点与阴极测 试接点之间的电阻。 【当前权利人】鸿富锦精密工业(深圳)有限公司; 鸿海精密工业股份有限公司 【当前专利权人地址】广东省深圳市宝安区龙华镇油松第十工业区东环二路2号; 中国台湾新北市土城区中山路66号 【专利权人类型】有限责任公司(外国法人独资) 【统一社会信用代码】914403007084307436 【家族引证次数】6.0

  • 【摘要】一种光源结构,其包括一灯泡、一滤光片及一承载板,所述灯泡及所述滤光片固设于承 载板,所述滤光片与所述承载板相对于所述灯泡呈锐角固定,所述承载板包括一承载面;该 灯泡包括一金属薄片,该金属薄片包括两个相对的散热面;所述灯泡中金属薄片的
  • 【摘要】本发明公开了一种适于电镀的耐热ABS改性材料及其制备方法,该适于电镀的耐热ABS改性材料由丙烯腈-丁二烯-苯乙烯共聚物(ABS)、苯乙烯-马来酸酐共聚物(SMA)、聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)、高胶粉以及抗氧剂、分散剂、其他助剂为原
  • 【专利类型】外观设计【申请人】深圳市好时达电器有限公司【申请人类型】企业【申请人地址】518109广东省深圳市龙华镇大浪南路联围街1号好时达公司龙华电子厂【申请人地区】中国【申请人城市】深圳市【申请人区县】宝安区【申请号】CN2008301
  • 【专利类型】外观设计【申请人】唐文亮【申请人类型】个人【申请人地址】518110广东省深圳市宝安区观兰镇福民茜坑新村得辉达工业园【申请人地区】中国【申请人城市】深圳市【申请人区县】宝安区【申请号】CN200830254349.3【申请日】2
  • 【摘要】本发明提供一种卡合结构,其包括:一壳体、一扣件及一垫片。所述壳体包括一上表面 及一下表面,所述壳体的上表面上形成有一向内凹陷的卡合部,在该卡合部上开设有至少一 导向卡槽及与所述导向卡槽相间隔的至少一固定卡槽。所述扣件包括一底面,在该
  • 【摘要】一种散热装置,包括互相扣合的若干散热鳍片,每一散热鳍片包括一本体及于本体中间 朝向相邻前一散热鳍片设置的多数扣片,且对应每一扣片处设有一开口,每一扣片包括与本 体相连的一接合部、位于扣片自由端的一扣合部,及位于接合部与扣合部之间的一