【摘要】 一种自动光学检测设备(Automated Optical Inspection；AOI)，用以检测一待测物的多个表面，该待测物可为一电子组件。该自动光学检测设备包含一光源装置，一影像感测装置，以及一光学结构件，其中，该光学结构件包含一基座与多个反射结构。当检测该多个表面的待测物时，将该待测物置于该些反射结构间，该些反射结构用以将反射自该多个表面的光线，再反射至该影像感测装置。 （，） 【专利类型】发明申请 【申请人】中茂电子(深圳)有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】518054 广东省深圳市南山区登良路天安南油工业区4栋第八层 【申请人地区】中国 【申请人城市】深圳市 【申请人区县】南山区 【申请号】CN200810177069.6 【申请日】2008-11-19 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101738395A 【公开公告日】2010-06-16 【公开公告年份】2010 【IPC分类号】G01N21/88 【发明人】潘世耀; 冯胜凯; 王铭辉; 简宏达 【主权项内容】一种自动光学检测设备，用以检测一待测物的多个表面，其特征在于，该自动光学检测设备包含：一光源装置，用以产生光线以照射于该待测物的该多个表面；一影像感测装置，接收该待测物的反射光线以产生一检测影像；以及一光学结构件，装设于该光线的光径上，包含：一基座，多个反射结构，设置于该基座上，该待测物置于该些反射结构间，该些反射结构用以将反射自该多个表面的光线，再反射至该影像感测装置。 【当前权利人】中茂电子(深圳)有限公司 【当前专利权人地址】广东省深圳市南山区登良路天安南油工业区4栋第八层 【专利权人类型】有限责任公司(台港澳法人独资) 【统一社会信用代码】91440300618932715B 【引证次数】1.0 【被引证次数】7 【他引次数】1.0 【被他引次数】7.0 【家族引证次数】1.0 【家族被引证次数】7
