【摘要】 本发明公开了一种双通道备份检测物理层/介质访问控制层工作状态的系统、装置及方法，本发明将物理层器件通过例如MDC/MDIO的总线与所述控制器直接相连，作为物理层器件通过介质访问控制层器件利用SPI总线间接连接到控制器的备用辅助总线通道的方式，实现了所述系统中控制器对物理层器件和/或介质访问控制层器件的自动诊断，能够快速定位故障。该系统中的控制器在设备异常时，通过该新增加的辅助总线通道直接读取物理层器件的状态，进一步的也可以直接读取介质访问控制层器件的状态。 【专利类型】发明授权 【申请人】中兴通讯股份有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】518057 广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦法律部 【申请人地区】中国 【申请人城市】深圳市 【申请人区县】南山区 【申请号】CN200810007748.9 【申请日】2008-03-07 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101247412B 【公开公告日】2010-12-08 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101247412B 【授权公告日】2010-12-08 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】H04L29/08; H04L29/10 【发明人】高胜宏; 尹红彬; 余加兵 【主权项内容】一种双通道备份检测物理层/介质访问控制层工作状态的控制器，其特征在于，包括信号连接的控制模块、MDC/MDIO总线时序生成模块、总线检测模块、SPI总线时序生成模块，其中，控制模块通过所述MDC/MDIO总线时序生成模块生成的MDC/MDIO总线时序命令直接控制MDC/MDIO总线上的物理层器件和/或介质访问控制层器件，或者通过所述SPI总线时序生成模块生成的SPI总线时序命令间接由介质访问控制层器件控制与之通过MDC/MDIO总线相连的物理层器件；总线检测模块，检测MDC/MDIO总线获取物理层器件和/或介质访问控制层器件的状态返回值，检测SPI总线获取物理层器件和/或介质访问控制层器件的状态返回值，将检测MDC/MDIO总线获取的状态返回值和检测SPI总线获取的状态返回值均送至控制模块，由所述控制模块将检测MDC/MDIO总线获取的状态返回值与检测SPI总线获取的状态返回值进行对比判断所述物理层器件和/或介质访问控制层器件是否正常。。微信 【当前权利人】莫洪海 【专利权人类型】上市股份有限公司 【统一社会信用代码】9144030027939873X7 【引证次数】4.0 【自引次数】1.0 【他引次数】3.0 【家族引证次数】4.0 【家族被引证次数】14
