【摘要】 本发明公开了一种高稳晶振的自动化测试方法和装置，其装置包括设置在印制电路板上的中央处理器、可编程逻辑器件、多个数模转换器、标准参考信号及多个高稳晶振器件；每个高稳晶振和所述中央处理器、所述可编程逻辑器件以及所述数模转换器构成一环路，用于计算需要测试的晶振指标，并与预先设定的晶振指标做比较，判断每一高稳晶振是否合格。本发明高稳晶振的自动化测试方法和装置由于采用了全自动的测试方法，操作更为简单，测试结果更为准确，测试速度更快。 ： 【专利类型】发明授权 【申请人】中兴通讯股份有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】518057 广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦法务部 【申请人地区】中国 【申请人城市】深圳市 【申请人区县】南山区 【申请号】CN200810065632.0 【申请日】2008-01-21 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101231321B 【公开公告日】2010-08-18 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101231321B 【授权公告日】2010-08-18 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】G01R31/00; G01R31/28 【发明人】傅小明; 李宗安; 刘学军; 陈海林 【主权项内容】一种高稳晶振的自动化测试装置，其特征在于，包括设置在印制电路板上的中央处理器、可编程逻辑器件、一个或多个数模转换器，一个外部标准参考信号；每个高稳晶振和所述中央处理器、所述可编程逻辑器件以及所述数模转换器构成一环路，用于计算需要测试的晶振指标，并与预先设定的晶振指标做比较，判断每一高稳晶振是否合格，其中，所述环路为，每个数模转换器串联一个高稳晶振，每个高稳晶振连接到可编程逻辑器件，可编程逻辑器件连接中央处理器，中央处理器连接到每个数模转换器；所述可编程逻辑器件用于测量并记录每个高稳晶振与参考信号的频差，中央处理器逐一判断每个高稳晶振指标是否合格。 【当前权利人】中兴通讯股份有限公司 【当前专利权人地址】广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦法务部 【专利权人类型】上市股份有限公司 【统一社会信用代码】9144030027939873X7 【引证次数】5.0 【被引证次数】1 【自引次数】1.0 【他引次数】4.0 【被他引次数】1.0 【家族引证次数】5.0 【家族被引证次数】16
