【摘要】 本发明公开了一种测量α粒子活度的方法及设备，尤其是公开了一种利用平均电离电流测量α粒子活度的方法及设备。本发明根据α粒子在空气中产生的电离离子对的电离电流与α粒子的活度之间的关系，通过测量出电离电流，进而间接地测量出α粒子的活度。本发明开辟了α探测技术的另一条途径，解决了直接测量时由于α粒子的射程极短而造成难题。其最大优点是对监测对象的表面形状没有严格要求，可以监测凹凸不平或不规则的表面，如各种工具表面，还可以监测小空腔的内表面，如管状或筒状物体的内表面。 【专利类型】发明申请 【申请人】中国辐射防护研究院 【申请人类型】科研单位 【申请人地址】030006 山西省太原市学府街102号 【申请人地区】中国 【申请人城市】太原市 【申请人区县】小店区 【申请号】CN200810226876.2 【申请日】2008-11-19 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101738629A 【公开公告日】2010-06-16 【公开公告年份】2010 【IPC分类号】G01T1/185; G01T1/00 【发明人】刘建忠; 王希涛; 王晓冬; 朱万宁; 姚晓丽; 周彦坤 【主权项内容】一种利用平均电离电流测量α粒子活度的方法，其特征在于：所述的方法根据α粒子在空气中产生的电离离子对的电离电流y(fA)与α粒子的活度x(Bq)之间的关系方程y(fA)＝A+Bx(Bq)，通过测量出电离电流，进而间接地测量出α粒子的活度；所述的关系方程中的A和B为常数，通过测量已知活度的α标准源获得。 【当前权利人】中国辐射防护研究院 【当前专利权人地址】山西省太原市学府街102号 【被引证次数】2 【被他引次数】2.0 【家族被引证次数】2
