【摘要】 用于哈特曼波前探测器的基于DFT的质心偏移量检测方法，其特征在于：所述的用于哈特曼波前探测器的基于DFT的质心偏移量检测方法在计算一子孔径某一方向上的质心偏移量时，先分别将该孔径的参考图像和待检测图像的灰度在这一方向累积，然后将累积所得到的向量分别进行DFT变换，接着计算变换后得到的向量的相位差向量，并将此相位差向量解卷绕，通过一次线性拟合得到相位差向量的斜率，最后由该斜率计算出待检测的图像与参考图像质心的相对偏移量；本探测器的质心检测方法流程简单、稳定，易实现，相对于现有质心偏移探测技术，能够很好的抑制噪声带来的影响，得到较高、较稳定的质心偏移量探测精度，且便于移植，因而可以得到较好、较稳定的波前探测精度。 【专利类型】发明授权 【申请人】中国科学院光电技术研究所 【申请人类型】科研单位 【申请人地址】610209 四川省双流350信箱 【申请人地区】中国 【申请人城市】成都市 【申请人区县】双流区 【申请号】CN200810119122.7 【申请日】2008-08-27 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101339004B 【公开公告日】2010-12-08 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101339004B 【授权公告日】2010-12-08 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】G01B11/02; G02B26/06 【发明人】魏凌; 姚平; 王海英; 刘进舟; 魏凯; 饶长辉; 饶学军; 张雨东 【主权项内容】1.用于哈特曼波前探测器的基于DFT的质心偏移量检测方法，其核心是基于DFT的质心偏移量方法，该方法的流程为： (1)将标准平面波入射到子孔径单元为M×M的哈特曼波前探测器上获取的参考全靶面图像，取其中某一要检测质心偏移量的子孔径所对应的图像，即分辨率为N×N的参考图像IC，其中M，N均为整数； (2)将分辨率均为N×N的IC的像素点的灰度值分别在两个待检测的方向：X方向和Y方向叠加，得到两个1×N的向量Icx和Icy： (3)对此两向量Icx和Icy分别作DFT，得到两个1×N的向量Fcx和Fcy： (4)分别计算Fcx和Fcy各分量的相位，得到两个1×N的向量Cx和Cy，即参考图像的相位向量，这样，对参考图像的处理完成； (5)将待检测波面入射到该哈特曼波前探测器上获取待检测全靶面图像，取其中与参考图像相同子孔径所对应的图像，即分辨率为N×N的待检测的图像ID； (6)同对参考图像的处理一样，先将待检测的图像ID的像素点的灰度值分别在两个待检测的方向：X方向和Y方向叠加，得到两个1×N的向量Idx和Idy： (7)对此两向量Idx和Idy分别作DFT，得到两个1×N的向量Fdx和Fdy： (8)分别计算Fdx和Fdy各分量的相位，得到两个1×N的向量Dx和Dy，即待检测图像的相位向量； (9)分别计算Dx与Dy及Cx与Cy的各分量的相位差，得到两个1×N的向量DDx和DDy： (10)分别对DDx和DDy解卷绕，得到DDx’和DDy’； (11)分别对DDx’和DDy’的前T项，进行一次拟合，得到斜率kx和ky，得待检测图像的质心与参考图像的质心在x和y方向的相对偏移量dx，dy分别为 和 个像素； (12)重复(1)到(11)，对子孔径单元为M×M的哈特曼波前探测器的其它子孔径进行相同的处理，得到所有重构波前所需的子孔径在x和y方向的偏移量。 【当前权利人】中国科学院光电技术研究所 【当前专利权人地址】四川省双流350信箱 【统一社会信用代码】12100000450811820A 【家族被引证次数】12
