【摘要】 一种不正常盘片区别方法，首先形成过薄数据层的SA值、标准SA值及过厚数据层的SA值的三个测试SA值；调整至前述测试SA值；进行聚焦，并记录聚焦误差信号；比较出最大聚焦误差信号及其相对应的测试SA值；检查相对应的测试SA值等于标准SA值，不相等则区别为不正常盘片，重新调整SA值，以提升信号质量。 【专利类型】发明申请 【申请人】广明光电股份有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】中国台湾桃园县 【申请人地区】中国 【申请人城市】台湾省 【申请号】CN200810190371.5 【申请日】2008-12-31 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101770785A 【公开公告日】2010-07-07 【公开公告年份】2010 【IPC分类号】G11B7/09; G11B19/12 【发明人】徐嘉星; 陈培纲; 萧亦隆 【主权项内容】一种不正常盘片区别方法，其步骤包含：(1)形成过薄数据层的SA值、标准SA值及过厚数据层的SA值的三个测试SA值；(2)调整至前述测试SA值；(3)进行聚焦，并记录聚焦误差信号；(4)比较出最大聚焦误差信号及其相对应的测试SA值；(5)检查该相对应的测试SA值是否等于标准SA值？假如相等，区别为正常盘片，否则为不正常盘片；以及(6)结束区别作业。 【当前权利人】广明光电股份有限公司 【当前专利权人地址】中国台湾桃园县 【引证次数】1.0 【他引次数】1.0 【家族引证次数】1.0
