【摘要】 一种用于叶栅内流的等离子体激励控制系统及控制方法，是在计算机 控制下进行的，通过在叶栅吸力面不同位置施加适当强度的等离子体激 励，一方面可以起到抑制叶栅吸力面流动分离的作用，另一方面可以改善 叶栅尾迹区的流动状态，起到减小流动损失的作用。 【专利类型】发明申请 【申请人】中国科学院工程热物理研究所 【申请人类型】科研单位 【申请人地址】100080北京市北四环西路11号 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】海淀区 【申请号】CN200810119578.3 【申请日】2008-09-03 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101666343A 【公开公告日】2010-03-10 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101666343B 【授权公告日】2010-12-01 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】F15D1/00; F04D29/26; F04D29/00; G05B19/04; G05D16/20 【发明人】李钢; 朱俊强; 聂超群; 徐燕骥 【主权项内容】1、一种用于叶栅内流的等离子体激励控制系统，其包括： 多个等离子体激励器，每一个等离子体激励器均是在一绝缘材料的两 侧面非对称地各设置一金属电极；其中一金属电极嵌在绝缘材料中，另一 金属电极裸露在空气中； 各等离子体激励器分散地设置在叶栅的吸力面上，且各等离子体激励 器嵌在绝缘材料中的金属电极一面朝向叶栅的吸力面；各等离子体激励器 的两个电极分别连接一高压高频电源；在该高压高频电源的作用下，各等 离子体激励器嵌在绝缘材料中的金属电极上方生成等离子体，并通过等离 子体与中性气体分子的碰撞向叶栅边界层输送能量，使叶栅周围空气形成 静流量为零的水平方向射流，加速叶栅附面层内的气流流动； 叶栅支撑固定在叶栅端壁内，该叶栅端壁将压缩气体封闭在通道内； 叶栅的吸力面上安置有壁面静压测量装置，以测量叶栅不同位置处的 吸力面表面静压，进而判断是否发生流动分离； 叶栅的吸力面上设置有壁面测温装置，以测量壁面温度； 高压高频电源、壁面静压测量装置以及壁面测温装置均由一中央处理 器控制。 【当前权利人】江苏中国科学院能源动力研究中心; 中国科学院工程热物理研究所 【当前专利权人地址】江苏省连云港市连云港经济开发区黄海大道56号; 北京市海淀区北四环西路11号 【统一社会信用代码】12100000400883017U 【被引证次数】27 【被自引次数】12.0 【被他引次数】15.0 【家族引证次数】4.0 【家族被引证次数】27
