【摘要】 一种瓦振校验仪，属测量领域。包括接触式绝对振动校验单元和中央控制单元，其在中央控制单元设置Windows CE运行平台；在Windows CE运行平台中设置测量软件；将测量软件与接触式绝对振动校验单元整合；测量软件控制接触式绝对振动校验单元的运行或测量动作顺序，读取测量结果，进行测量参数的计算、显示和存储，自动绘制被测传感器实时波形、被测传感器线性曲线、频谱曲线、灵敏度误差曲线。可广泛用于各种瓦振(速度/烈度)振动系统的校验领域。。： 【专利类型】发明申请 【申请人】上海瑞视仪表电子有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】201108 上海市闵行区莘庄工业园区金都路4299号 【申请人地区】中国 【申请人城市】上海市 【申请人区县】闵行区 【申请号】CN200810201491.0 【申请日】2008-10-21 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101726630A 【公开公告日】2010-06-09 【公开公告年份】2010 【IPC分类号】G01P21/00; G01H17/00 【发明人】徐健 【主权项内容】1.一种瓦振校验仪，包括接触式绝对振动校验单元和中央控制单元，其特征是：在中央控制单元设置Windows CE运行平台；在Windows CE运行平台中设置测量软件；将测量软件与接触式绝对振动校验单元整合；测量软件控制接触式绝对振动校验单元的运行或测量动作顺序，读取测量结果，进行测量参数的计算、显示和存储，自动绘制被测传感器实时波形、被测传感器线性曲线、频谱曲线、灵敏度误差曲线。 【当前权利人】上海瑞视仪表电子有限公司 【当前专利权人地址】上海市闵行区莘庄工业园区金都路4299号 【专利权人类型】有限责任公司(自然人投资或控股) 【统一社会信用代码】91310112703399206U 【被引证次数】5 【被他引次数】5.0 【家族被引证次数】5
