【摘要】 本发明公开了一种测量制冷型红外焦平面探测器件各光敏元间的温度差的装置和方法。温度分布不均匀会导致材料的禁带宽度有差异从而影响器件的响应波长，不利于焦平面的均匀性指标的提高，因此不同位置的光敏元温度分布是非常值得的。但目前还没有哪个方法能简单方便的测量几何尺寸在微米量级的光敏元的温度。本技术通过静电计测量微小面积光敏元的电势差，可以方便的得到他们间的温度差。该方法简便易行，测量准确，值得推广使用。 【专利类型】发明授权 【申请人】中国科学院上海技术物理研究所 【申请人类型】科研单位 【申请人地址】200083 上海市玉田路500号 【申请人地区】中国 【申请人城市】上海市 【申请人区县】虹口区 【申请号】CN200810201542.X 【申请日】2008-10-22 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101373153B 【公开公告日】2010-06-23 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101373153B 【授权公告日】2010-06-23 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】G01K7/01 【发明人】张海燕; 胡晓宁; 李言谨; 龚海梅; 陆华杰 【主权项内容】一种测量制冷型红外探测器光敏元间温差的装置，它主要包括杜瓦(8)、静电计(10)和静电屏蔽网11，其特征在于：被测量的探测器器件由真空导热油脂粘贴在杜瓦(8)中的冷头(1)上，被测量的探测器器件上的各个光敏元通过测量引线(6)与杜瓦(8)上的金属触点相连，静电计(10)通过静电计引线(9)并联在杜瓦(8)的金属触点上，通过静电计(10)测量各个光敏元的电动势，整个装置安放在静电屏蔽网(11)中。 【当前权利人】中国科学院上海技术物理研究所 【当前专利权人地址】上海市玉田路500号 【统一社会信用代码】12100000425005579K 【家族被引证次数】1
