【摘要】 一种嵌入式系统的测试装置及方法，该测试装置包括：读写单元用于将测试参数写入通用输入输出芯片中；串行总线接口用于在测试装置与嵌入式系统之间传送测试信号和测试结果代码；通用输入输出芯片用于保存测试参数和测试结果代码；可编程芯片用于根据测试结果代码从存储单元中读取对应的测试解析信息；区段显示器用于显示测试参数和测试结果代码；LED显示器用于显示可编程芯片根据测试结果代码从存储单元中读取的测试解析信息。实施本发明，用户可以通过测试结果代码及其测试解析信息得出嵌入式系统的测试结果，其结构简单且占用空间小，减少了测试成本。 【专利类型】发明申请 【申请人】鸿富锦精密工业(深圳)有限公司; 鸿海精密工业股份有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】518109 广东省深圳市宝安区龙华镇油松第十工业区东环二路2号 【申请人地区】中国 【申请人城市】深圳市 【申请人区县】宝安区 【申请号】CN200810305546.2 【申请日】2008-11-14 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101739322A 【公开公告日】2010-06-16 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101739322B 【授权公告日】2012-11-21 【授权公告年份】2012.0 【IPC分类号】G06F11/22; G01R31/28 【发明人】范朝宗 【主权项内容】一种嵌入式系统的测试装置，该测试装置与嵌入式系统相连，用于测试嵌入式系统的功能，其特征在于，所述测试装置包括读写单元、串行总线接口、通用输入输出芯片、可编程芯片、存储单元、区段显示器以及LED显示器，其中：所述读写单元与通用输入输出芯片连接，用于将测试参数写入通用输入输出芯片中；所述串行总线接口与嵌入式系统连接，用于在所述测试装置与嵌入式系统之间传送测试信号和测试结果代码；所述通用输入输出芯片，用于保存所述测试参数和测试结果代码；所述可编程芯片与通用输入输出芯片连接，用于根据测试结果代码从存储单元中读取对应的测试解析信息；所述区段显示器与通用输入输出芯片连接，用于即时地显示测试参数和测试结果代码；以及所述LED显示器与可编程芯片连接，用于显示可编程芯片根据测试结果代码从存储单元中读取的测试解析信息。 【当前权利人】江苏达海智能系统股份有限公司 【当前专利权人地址】江苏省南通市通州区世纪大道999号6层 【专利权人类型】有限责任公司(外国法人独资) 【统一社会信用代码】914403007084307436 【被引证次数】10 【被他引次数】10.0 【家族引证次数】4.0 【家族被引证次数】10
