【摘要】 一种光学元件尺寸的检测装置，其包括：多个间隔设置的筛板与多个刮板，每个筛板中 形成有多个通孔，每个刮板滑动安装于一相应的筛板，用于沿筛板表面滑动使放置在该筛板 上的光学元件通过该筛板内的通孔而到达下一筛板上，该筛板中的通孔的孔径大于所述下一 筛板中的通孔的孔径。本发明还涉及一种光学元件尺寸的检测方法。 【专利类型】发明申请 【申请人】鸿富锦精密工业(深圳)有限公司; 鸿海精密工业股份有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】518109广东省深圳市宝安区龙华镇油松第十工业区东环二路2号 【申请人地区】中国 【申请人城市】深圳市 【申请人区县】宝安区 【申请号】CN200810304609.2 【申请日】2008-09-23 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101684997A 【公开公告日】2010-03-31 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101684997B 【授权公告日】2013-03-20 【授权公告年份】2013.0 【IPC分类号】G01B5/20; G01B5/08 【发明人】王仲培 【主权项内容】1.一种光学元件尺寸的检测装置，其包括：多个间隔设置的筛板与 多个刮板，每个筛板中形成有多个通孔，每个刮板滑动安装于一相应的筛板，用于沿筛板表 面滑动使放置在该筛板上的光学元件通过该筛板内的通孔而到达下一筛板上，该筛板中的通 孔的孔径大于所述下一筛板中的通孔的孔径。 【当前权利人】鸿富锦精密工业(深圳)有限公司; 鸿海精密工业股份有限公司 【当前专利权人地址】广东省深圳市宝安区龙华镇油松第十工业区东环二路2号; 中国台湾新北市土城区中山路66号 【专利权人类型】有限责任公司(外国法人独资) 【统一社会信用代码】914403007084307436 【被引证次数】4 【被他引次数】4.0 【家族引证次数】15.0 【家族被引证次数】5
