【摘要】 一种寿命测试系统包括第一、第二探测装置、处理器、运动模块及存储模块，两探测装置、运动模块及存储模块均与处理器相连，所述运动模块上设置有第一、第二感应物，所述处理器用于控制运动模块的运动及计算两探测装置分别感应到两感应物的次数，所述存储模块用于存储两探测装置分别感应到两感应物的次数，当所述第一探测装置感应到所述第一感应物的次数不等于所述第二探测装置感应到所述第二感应物的次数时，所述第一探测装置寿命不合格。所述寿命测试系统可以精确的测量所述第一探测装置的寿命。本发明还提供了一种利用上述寿命测试系统进行寿命测试的方法。 【专利类型】发明申请 【申请人】鸿富锦精密工业(深圳)有限公司; 鸿海精密工业股份有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】518109 广东省深圳市宝安区龙华镇油松第十工业区东环二路2号 【申请人地区】中国 【申请人城市】深圳市 【申请人区县】宝安区 【申请号】CN200810305506.8 【申请日】2008-11-12 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101738451A 【公开公告日】2010-06-16 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101738451B 【授权公告日】2013-08-28 【授权公告年份】2013.0 【IPC分类号】G01N33/00 【发明人】秦强; 柳天佑; 宫连仲 【主权项内容】一种寿命测试系统，用于测试一第一探测装置的寿命，所述寿命测试系统包括一第二探测装置、一处理器、一运动模块及一存储模块，所述第一、第二探测装置、运动模块及存储模块均与所述处理器相连，所述运动模块上设置有一第一感应物及一第二感应物，所述处理器用于控制所述运动模块的运动及计算所述第一及第二探测装置分别感应到所述第一感应物及第二感应物的次数，所述存储模块用于存储所述第一及第二探测装置分别感应到所述第一感应物及第二感应物的次数，当所述第一探测装置感应到所述第一感应物的次数不等于所述第二探测装置感应到所述第二感应物的次数时，所述第一探测装置寿命不合格。 【当前权利人】鸿富锦精密工业(深圳)有限公司; 鸿海精密工业股份有限公司 【当前专利权人地址】广东省深圳市宝安区龙华镇油松第十工业区东环二路2号; 中国台湾新北市土城区中山路66号 【专利权人类型】有限责任公司(外国法人独资) 【统一社会信用代码】914403007084307436 【引证次数】4.0 【被引证次数】5 【自引次数】1.0 【他引次数】3.0 【被他引次数】5.0 【家族引证次数】8.0 【家族被引证次数】12
