【摘要】 一种刀具参数测量系统，用于测量数控机床的取刀工具取得的刀具的加工参数，包括一控制器及一光学感测器，所述控制器包括一换刀控制模块，用于控制所述取刀工具将刀具移至光学感测器的上方；一刀具控制模块，用于控制所述取刀工具将刀具从光学感测器上方下降至使所述刀具头部与光学感测器的一感测基准线同高度，并控制所述刀具沿垂直于所述光学感测器的感测基准线的方向穿过感测基准线，使得光学感测器发出的电信号产生电平变化；及一参数计算模块，用于接收所述所述光学感测器发送的电信号并根据所述电信号计算出刀具的加工参数。本发明还提供了一种刀具参数测量方法。本发明刀具参数测量系统及方法可快速进行刀具参数测量，从而节省测量时间。 【专利类型】发明申请 【申请人】鸿富锦精密工业(深圳)有限公司; 赐福科技股份有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】518109 广东省深圳市宝安区龙华镇油松第十工业区东环二路2号 【申请人地区】中国 【申请人城市】深圳市 【申请人区县】宝安区 【申请号】CN200810306398.6 【申请日】2008-12-19 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101745843A 【公开公告日】2010-06-23 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101745843B 【授权公告日】2013-07-24 【授权公告年份】2013.0 【IPC分类号】B23Q17/00; B23Q17/24 【发明人】唐伟德 【主权项内容】一种刀具参数测量系统，应用于数控机床，用于测量数控机床的取刀工具取得的刀具的加工参数，包括一控制器及一光学感测器，所述控制器包括：一换刀控制模块，用于控制所述取刀工具将所述刀具移至所述光学感测器的上方；一刀具控制模块，用于控制所述取刀工具将所述刀具从所述光学感测器上方下降至使所述刀具头部与所述光学感测器的一感测基准线同高度，并控制所述刀具沿垂直于所述光学感测器的感测基准线的方向穿过所述感测基准线，使得所述光学感测器发出的电信号产生电平变化；及一参数计算模块，用于接收所述所述光学感测器发送的电信号并根据所述电信号的电平变化计算出所述刀具的加工参数。 【当前权利人】鸿富锦精密工业(深圳)有限公司; 赐福科技股份有限公司 【当前专利权人地址】广东省深圳市宝安区龙华镇油松第十工业区东环二路2号; 中国台湾台中市大雅区科雅路33号3楼 【专利权人类型】有限责任公司(外国法人独资) 【统一社会信用代码】914403007084307436 【引证次数】6.0 【被引证次数】4 【他引次数】6.0 【被他引次数】4.0 【家族引证次数】8.0 【家族被引证次数】7
