【摘要】 本发明提供一种半导体存储介质的寿命预警方法和使用该方法的系统及 装置，所述方法包括步骤：获取半导体存储介质寿命信息；根据获取的半导 体存储介质寿命信息进行预警。本发明采用了预警的方式来实现半导体存储 介质的寿命的提示，在半导体存储介质达到使用极限之前作出警告，使用户 在使用时知道半导体存储介质寿命何时达到极限，这样可以在存储设备老化 前对重要数据及时进行备份，保护了数据的安全性，避免了数据的丢失。 数据由整理 【专利类型】发明申请 【申请人】深圳市朗科科技股份有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】518057广东省深圳市南山区高新南一道中国科技开发院孵化大楼六楼 【申请人地区】中国 【申请人城市】深圳市 【申请人区县】南山区 【申请号】CN200810068480.X 【申请日】2008-07-10 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101625901A 【公开公告日】2010-01-13 【公开公告年份】2010 【发明人】卢赛文 【主权项内容】1、一种半导体存储介质寿命预警方法，其特征在于，包括步骤： 获取半导体存储介质寿命信息； 根据获取的半导体存储介质寿命信息进行预警。 【当前权利人】深圳市朗科科技股份有限公司 【当前专利权人地址】广东省深圳市南山区高新南一道中国科技开发院孵化大楼六楼 【专利权人类型】股份有限公司(上市) 【统一社会信用代码】91440300708442322G 【被引证次数】1 【家族被引证次数】2
