【摘要】 本发明公开了一种在微波产品机内电路设置连接器实现其可测试性的方法，机内各功能电路此之间相互连接；每相邻两个功能电路之间彼此反向地接入两个高频信号连接器，其中，高频信号连接器的第一金属弹片与功能电路的信号输入端或者信号输出端连接，而第二金属弹片与另一高频信号连接器的第二金属弹片连接；当对一功能电路进行测试时，将测试探头分别插入此功能电路两端的高频信号连接器内，测试探头下压第一金属弹片，使其与第二金属弹片分开，此时对此功能单元进行单独测试；测试完成后，拔出两根测试电缆的测试探头，第一金属弹片将弹回原位将此功能电路重新连接至微波电路系统中，解决了测量某一功能电路时破坏微波电路系统的问题。 【专利类型】发明授权 【申请人】黄金亮 【申请人类型】个人 【申请人地址】518000 广东省深圳市南山区南油大道百富大厦A座2001室 【申请人地区】中国 【申请人城市】深圳市 【申请人区县】南山区 【申请号】CN200810094291.X 【申请日】2008-04-25 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101299056B 【公开公告日】2010-07-14 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101299056B 【授权公告日】2010-07-14 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】G01R31/28 【发明人】黄金亮 【主权项内容】微信 一种在微波产品机内电路设置连接器实现其可测试性的方法，机内各功能电路彼此之间相互连接，形成微波电路系统；其特征在于：每相邻两个功能电路之间彼此反向地接入两个高频信号连接器，分别为第一连接器和第二连接器；其中，第一连接器的第一金属弹片与前一功能电路的信号输出端连接，第一连接器的第二金属弹片与第二连接器的第二金属弹片连接；第二连接器的第一金属弹片与后一功能电路的信号输入端连接；而后一功能电路的信号输出端与另一第一连接器的第一金属弹片连接；当对一功能电路进行测试时，将两根测试电缆的测试探头分别插入此功能电路两端的第一连接器与第二连接器内，两个测试探头分别与第一连接器的第一金属弹片和第二连接器的第一金属弹片接触，并下压与各自相接触的第一金属弹片，使第一连接器的第一金属弹片和第二连接器的第一金属弹片分别和与各自相对应的第二金属弹片分开，此时，对此功能电路进行单独测试；测试完成后，拔出两根测试电缆的测试探头，此时第一连接器和第二连接器的第一金属弹片均将弹回原位而与各自相对应的第二金属弹片重新接触，将此功能电路重新连接至微波电路系统中。 【当前权利人】电连技术股份有限公司 【当前专利权人地址】广东省深圳市光明区公明街道办西田社区锦绣工业园 【引证次数】1.0 【自引次数】1.0 【家族引证次数】1.0 【家族被引证次数】2
