【摘要】 本发明公开了一种电磁干扰扫描装置及方法，其中所述方法包括：通过近场电磁干扰强度扫描和远场电磁干扰强度测试的自动切换，获取被测试对象的近场扫描结果和远场测试结果；根据进场扫描结果、远场测试结果以及预先存储的标准测试结果，定位对超标频点贡献最大的干扰源。本发明通过在近场电磁干扰强度扫描和远场电磁干扰强度测试之间进行自动快速切换，提高了电磁干扰源的定位效率。 【专利类型】发明授权 【申请人】中兴通讯股份有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】518057 广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦A座5层 【申请人地区】中国 【申请人城市】深圳市 【申请人区县】南山区 【申请号】CN200810007267.8 【申请日】2008-02-21 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101231319B 【公开公告日】2010-06-23 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101231319B 【授权公告日】2010-06-23 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】G01R31/00; G01R29/08 【发明人】马光明; 严勇 【主权项内容】一种电磁干扰扫描装置，其特征在于，包括：近场扫描单元、电磁干扰远场天线、计算控制单元、频谱分析单元、射频选择单元和接口单元，其中，所述近场扫描单元，用于对被测试对象进行近场电磁干扰强度扫描，并将获取的近场扫描单元的测试结果，经射频选择单元发送给频谱分析单元进行频谱分析；所述电磁干扰远场天线，用于对被测试对象进行远场电磁干扰强度测试，并将获取的远场电磁干扰远场天线的测试结果，经射频选择单元发送给频谱分析单元进行频谱分析；所述频谱分析单元，用于按照计算控制单元指定的测试参数对近场扫描单元和电磁干扰远场天线的测试结果进行频谱分析，并把频谱分析结果发送给计算控制单元；所述频谱分析结果包括近场扫描结果和远场测试结果；所述计算控制单元，用于控制射频选择单元进行近场扫描和远场测试的自动切换，同时根据从频谱分析单元得到的频谱分析结果和预先存储在计算控制单元中的电磁兼容标准数据，定位对超标频点或频段贡献最大的干扰源；所述射频选择单元，用于根据计算控制单元的控制，在近场扫描单元和电磁干扰远场天线之间进行自动切换；所述接口单元，用于作为射频选择单元和计算控制单元间的接口。 【当前权利人】中兴通讯股份有限公司 【当前专利权人地址】广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦A座5层 【专利权人类型】上市股份有限公司 【统一社会信用代码】9144030027939873X7 【引证次数】6.0 【被引证次数】1 【自引次数】1.0 【他引次数】5.0 【被他引次数】1.0 【家族引证次数】6.0 【家族被引证次数】28
