【摘要】 一种光学检测系统以及方法，以阴影检测如太阳能电池的待测物上的凸起 瑕疵，以一斜向光线照射待测物来测得待测物的灰阶度值，比对待测物的灰阶 度值变化以辨认出阴影区域，计算阴影区域的灰阶度值与待测物的灰阶度值的 灰阶度变化率，以此灰阶度变化率自预储的对应关系中撷取相对应的高度值； 所述的对应关为灰阶度变化率与高度值的对应，最后，当所撷取的高度值超过 预定的门坎值时，则判断此阴影区域所对应于待测物的位置为凸起瑕疵，这样， 不需借助精确的高度计算，能快速的比对就能判定凸起瑕疵，符合生产线快速 检验的需求。 【专利类型】发明申请 【申请人】中茂电子(深圳)有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】518054广东省深圳市南山区登良路天安南油工业区4栋第八层 【申请人地区】中国 【申请人城市】深圳市 【申请人区县】南山区 【申请号】CN200810149645.6 【申请日】2008-09-16 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101676712A 【公开公告日】2010-03-24 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101676712B 【授权公告日】2011-03-23 【授权公告年份】2011.0 【IPC分类号】G01N21/892; G01N21/88 【发明人】冯胜凯; 简宏达; 吴景仁 【主权项内容】1、一种光学检测系统，其特征在于，以阴影检测一待测物的凸起瑕疵， 该光学检测系统包含： 一光源设备，以一斜向光线照射该待测物以产生反射光； 一图像传感器，接收反射光以测得该待测物的灰阶度值； 一存储单元，储存一对应关系，该对应关系为灰阶度变化率与高度值的对 应；以及 一处理单元，该处理单元计算该待测物的灰阶度值的灰阶度变化率，接续 该处理单元以该灰阶度变化率自该存储单元中的对应关系撷取相对应的高度 值； 其中，当该存储单元所撷取的高度值超过预定的门坎值时，该处理单元判 断此灰阶度变化率所对应于该待测物的位置为该凸起瑕疵。 【当前权利人】中茂电子(深圳)有限公司 【当前专利权人地址】广东省深圳市南山区登良路天安南油工业区4栋第八层 【专利权人类型】有限责任公司(台港澳法人独资) 【统一社会信用代码】91440300618932715B 【被引证次数】9 【被他引次数】9.0 【家族引证次数】6.0 【家族被引证次数】9
