【摘要】 本发明涉及检测领域，公开了一种表面缺陷检测方法、装置，方法包括：获取表面的原始图像；对原始图像的各像素点，分别计算每像素点在多个方向的梯度值，取其中最大值作为像素点的新的灰度值，得到梯度图像；对梯度图像，如果灰度值像素点的灰度值大于阈值，则将其灰度值赋值为：第一灰度值，否则赋值为：第二灰度值，获取二值化图像；细化二值化图像，得到单线条的二值化图像，其中包括单线条的缺陷边缘；将单线条的缺陷边缘，转换为闭环的缺陷边缘；在原始图像中，比较闭环的缺陷边缘内像素点与外侧附近的像素点的灰度值的大小，如果小于，则判定闭环的缺陷为：表面的缺陷。 微信 【专利类型】发明授权 【申请人】广州中国科学院工业技术研究院; 中国科学院沈阳自动化研究所 【申请人类型】科研单位 【申请人地址】511458 广东省广州市南沙区南横管理区资讯科技园软件南楼403 【申请人地区】中国 【申请人城市】广州市 【申请人区县】南沙区 【申请号】CN200810027040.X 【申请日】2008-03-26 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101256157B 【公开公告日】2010-06-02 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101256157B 【授权公告日】2010-06-02 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】G01N21/88; G06T7/60 【发明人】邬纪泽; 李伟; 沈大刚 【主权项内容】一种表面缺陷检测方法，其特征是，包括：获取被检测物件的表面的图像，记为原始图像；对所述原始图像的各像素点，分别计算每像素点在至少两个方向的梯度值，取所述梯度值中的最大值作为所述像素点的新的灰度值，得到梯度图像；如果所述梯度图像的像素点的灰度值大于预定的阈值，则将所述梯度图像的像素点的灰度值赋值为预定的第一灰度值，否则，将所述梯度图像的像素点的灰度值赋值为预定的第二灰度值，获取二值化图像；细化所述二值化图像，得到单线条的二值化图像，其中所述单线条的二值化图像中包括单线条的缺陷边缘；将所述单线条的缺陷边缘，转换为闭环的缺陷边缘；在所述原始图像中，比较所述闭环的缺陷边缘内任意像素点与所述闭环的缺陷边缘外侧附近的任意像素点的灰度值的大小，只有边缘内的像素点的灰度值小于边缘外的像素点的灰度值时，才判定所述闭环的缺陷边缘为所述被检测物件表面的缺陷的边缘。 【当前权利人】广州中国科学院工业技术研究院; 中国科学院沈阳自动化研究所 【当前专利权人地址】广东省广州市南沙区南横管理区资讯科技园软件南楼403; 辽宁省沈阳市沈河区南塔街114号 【统一社会信用代码】12100000400012449R 【引证次数】7.0 【他引次数】7.0 【家族引证次数】7.0 【家族被引证次数】43
