【摘要】 一种灰体辐射率的测定方法，是通过双波长探测物体的热辐射强度，来测量辐射率，即提出灰体的热辐射表达公式，其中，是灰体的热辐射强度，λ为辐射波长，T为灰体的温度，这里a1，a2是表征辐射率的系数；在相同的温度下，用双波长分别测量灰体的辐射强度，解出系数a1，a2的值，将其代入灰体的热辐射表达公式中，就可以得到灰体的辐射强度与温度的对应关系；再根据灰体的物理模型得出实际物体在此温度下的辐射率，其中，为灰体的辐射强度；σ(λ，T)为灰体的辐射率，0<σ(λ，T)<1；φ(λ，T)为黑体的辐射强度。本发明通过精确测量物体(即灰体)的辐射率，用双波长对热辐射的普朗克公式的两个常数项进行标定，来达到精确测量红外辐射温度的目的。具有更广泛的应用领域，特别是高精度的测温领域。 【专利类型】发明授权 【申请人】田乃良 【申请人类型】个人 【申请人地址】300191 天津市南开区育梁道观景里5-2-201 【申请人地区】中国 【申请人城市】天津市 【申请人区县】南开区 【申请号】CN200810153638.3 【申请日】2008-11-28 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101419095B 【公开公告日】2010-09-08 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101419095B 【授权公告日】2010-09-08 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】G01J5/52 【发明人】田乃良 【主权项内容】一种灰体辐射率的测定方法，其特征在于，是通过双波长探测物体的热辐射强度，来测量辐射率，包括有：提出灰体的热辐射表达公式其中，是灰体的热辐射强度，λ为辐射波长，T为灰体的温度，这里a1，a2是表征辐射率的系数；在相同的温度下，用双波长分别测量灰体的辐射强度，解出系数a1，a2的值，将其代入灰体的热辐射表达公式中，就可以得到灰体的辐射强度与温度的对应关系；再根据灰体的物理模型得出实际物体在此温度下的辐射率，其中，为灰体的辐射强度；σ(λ，T)为灰体的辐射率，0＜σ(λ，T)＜1；φ(λ，T)为黑体的辐射强度。FA20188173200810153638301C00011.tif, FA20188173200810153638301C00012.tif, FA20188173200810153638301C00013.tif, FA20188173200810153638301C00014.tif, FA20188173200810153638301C00015.tif 【当前权利人】天津市瑞海电子科技有限公司 【当前专利权人地址】天津市西青区经济技术开发区赛达新兴产业园C座6层685 【家族被引证次数】12
