【摘要】 本发明是关于一种可模拟系统测试的芯片测试分类机，先于机台上设 有温控室，温控室的底板设置一测试座，机械臂的下压杆下方组设有真空 吸嘴用以吸取待测芯片，然后将下压杆下压深入温控室内使得待测芯片对 应抵紧测试座并与模拟系统电路板电性连接，同时下压杆中段的盖板也盖 合密闭住温控室的上开口，使温控室内形成一密闭容室。此时，通入高温 或低温气体至温控室内，可令待测芯片在高温或低温环境下，分别通过模 拟系统电路板作系统等级的模拟测试。若于温控室增设导出管快速抽出温 控室内气体，更可缩短不同温度变换时的系统测试时程。 【专利类型】发明申请 【申请人】京元电子股份有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】台湾省新竹市 【申请人地区】中国 【申请人城市】台湾省 【申请号】CN200810213606.8 【申请日】2008-08-22 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101655529A 【公开公告日】2010-02-24 【公开公告年份】2010 【发明人】林源记; 谢志宏 【主权项内容】1、一种可模拟系统测试的芯片测试分类机，包括： 一机台，包括有至少一气体供应装置； 一温控室，设置于该机台上，该温控室包括有一底板、一上开口、及 至少一导入管，该底板上设有至少一测试座，该上开口对应位于该至少一 测试座上方，该至少一导入管连通于该温控室与该至少一气体供应装置之 间； 一模拟系统电路板，电性连接至该温控室的该至少一测试座，该模拟 系统电路板上组设有至少一外围组件；以及 一机械臂，包括有一下压杆、及一取放装置，该下压杆下方组设有该 取放装置，该下压杆中段组设有一盖板，该下压杆向下伸入该上开口内， 该盖板对应盖合密闭住该温控室的该上开口。 【当前权利人】京元电子股份有限公司 【当前专利权人地址】台湾省新竹市 【被引证次数】TRUE 【家族被引证次数】TRUE
