【摘要】 本发明提供一种生成芯片工艺调整的测试向量的方法及系统。所述方法包括：A、根据网表和约束对芯片进行静态时序分析；B、对静态时序分析报告进行分解，生成包括关键时序路径和路径中各节点的输出信号的报告文件；C、运行功能测试程序来对芯片的网表进行仿真，并输出波形文件；D、根据所述报告文件和波形文件判断关键时序路径是否被完全驱动，若是，进入步骤E，否则，记录被部分驱动的路径的起点和终点，并在所述约束中增加所述起点和终点信息后返回步骤A；E、在所述被完全驱动的关键时序路径满足工艺调整要求时，根据所述波形文件生成测试向量。依照本发明，不需要人工分析仿真波形，能够自动生成测试向量，有效提高了测试向量的生成速度。 ： 【专利类型】发明授权 【申请人】北京天碁科技有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】100082 北京市海淀区西直门北大街56号生命人寿大厦六层 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】海淀区 【申请号】CN200810247493.3 【申请日】2008-12-31 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101464921B 【公开公告日】2010-09-29 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101464921B 【授权公告日】2010-09-29 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】G06F17/50; G01R31/3183 【发明人】梁洪崑; 樊小波; 王平平 【主权项内容】一种生成芯片工艺调整的测试向量的系统，其特征在于，包括：静态时序分析装置，用于根据网表和约束对芯片进行静态时序分析，生成静态时序分析报告；路径分析装置，用于对所述静态时序分析报告进行分解，生成包括关键时序路径和关键时序路径中各节点的输出信号的报告文件；仿真装置，用于运行功能测试程序来对芯片的网表进行仿真，并输出波形文件；路径驱动检测装置，用于根据所述报告文件和波形文件来判断关键时序路径的驱动情况，记录被完全驱动的关键时序路径，以及，记录被部分驱动的关键时序路径的起点和终点，并在所述约束中增加所述起点和终点信息后重新触发所述静态时序分析装置；判断装置，用于判断所述被完全驱动的关键时序路径是否满足工艺调整要求，在确定所述被完全驱动的关键时序路径不满足工艺调整要求时，对功能测试程序进行更新后重新触发所述仿真装置；测试向量生成装置，用于在所述被完全驱动的关键时序路径满足工艺调整要求时，根据所述被完全驱动的关键时序路径以及所述波形文件生成测试向量；其中，所述路径驱动检测装置根据所述报告文件和波形文件来判断关键时序路径的驱动情况包括：将所述报告文件转换为机器验证语言形式的检测文件，并在所述检测文件中增加多个标志，每个标志对应于所述关键时序路径中的一个节点；根据所述波形文件确定所述关键时序路径中各节点实际的输出信号，判断所述实际的输出信号与所述检测文件中记录的对应节点的输出信号是否一致，若是，将相应的标志设置为真；在所述检测文件中所有的标志均为真时，确定相应的关键时序路径被完全驱动；在所述检测文件中的标志不全为真，且起点和终点对应的标志均为真时，确定相应的关键时序路径被部分驱动。 【当前权利人】北京天碁科技有限公司 【当前专利权人地址】北京市海淀区西直门北大街56号生命人寿大厦六层 【家族被引证次数】18
